二手 SENTECH SE 400ADV #9316098 待售
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已售出
ID: 9316098
Ellipsometer
Extending the limits of the laser ellipsometer:
Multi-angle manual goniometer
Angle accuracy allow measuring the refractive index
Extinction coefficient
Film thickness of single-layer
Laminated films
High-speed measurement:
Monitor the growth
Endpoint detection of single-layer films
Automatic scanning of sample uniformity
Ultra-thin single-layer films
Small desktop composed of ellipsometer optics
Goniometer
Sample stage
Automatic collimating lens
Helium-neon laser light source
Detection unit
Accuracy: 0.1Å
Manual goniometer
Sample stage
Automatic collimating lens
Helium Neon laser light source
Detector
Options:
Microelectronics
Photovoltaic
Data storage
Life sciences
Metal processor.
SENTECH SE 400ADV是一種橢圓偏振儀,它能夠無損、精確、精確地測量各種基板上的薄膜光學特性。該橢圓偏光儀是一種多功能儀器，它提供了一系列強大的特性，可以在極短的時間內測量金屬基板上電介質膜的反射和透射層厚度。SENTECH SE400ADV設計有圓形偏振光源和形成非成像、同軸和定向照明系統的物鏡。這允許進行無損分析，使測量的樣品保持完整。SE 400ADV的光斑尺寸是可調的,樣品光束尺寸為2毫米.物鏡收集反射光和折射光，將光束聚焦到精密分光光度計上。SE400ADV分析包含三種不同的測量配置,每種配置都有自己的功能。可以通過收集參數化數據來確定樣品的光學常數，如折射率和吸收率。橢圓偏光計也可用於確定具有雙波長配置的薄膜層的厚度。這三種配置記錄在一次自動掃描中，可以通過SENTECH軟件對結果進行量化。SENTECH SE 400ADV設置還帶有內置粗糙度指示器。這允許分析基板的表面粗糙度。儀器還配備了先進的自動波長選擇。這一特性通過對某種基板使用正確的波長，可以更快速地進行分析。儀器本身具有極低的軌道漂移，這是使用低噪聲光源和有源熱電冷卻的結果。內置的電腦界面配有7英寸顯示屏，設計方便導航。此外,該界面還允許快速輕松地進行軟件升級和更新。該儀器還附帶了一些預定義的應用程序，允許快速和準確的數據收集和分析。SENTECH SE400ADV是一種精確而有力的薄膜表征工具。它具有眾多的特性，能夠更快、更容易地測量薄膜光學特性。該儀器包括預定義的應用程序和內置的計算機界面，使其成為需要及時精確測量薄膜光學性能的專業人士的絕佳選擇。
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