二手 SENTECH SE 400ADV #9410238 待售

SENTECH SE 400ADV Ellipsometer是一種高度先進的設備,用於精確測量各種材料上的光學薄膜性能。該系統用途廣泛,用戶友好,是有經驗和新手用戶的理想選擇。SENTECH SE400ADV可同時測量0.1至90度範圍內的法線角和斜角,擴展波長範圍在250至1200 nm之間。它還利用專門的高精度雙通道探測器和先進的軟件算法，以確保可靠的數據采集和準確的結果。除了法線和斜角測量外,SE 400ADV還包括一些其他功能,允許用戶進行更詳細的測量。這些包括延遲、任意角度的角度分辨率測量和光譜反應。該單元還測量了0.02至5微米的光學膜厚度。SE400ADV橢圓儀為光學薄膜的研發提供了廣泛的特點，包括設計和優化薄膜結構、分析沈積過程和評估現有薄膜結構性能的能力。機器的界面提供了用戶友好的圖形用戶界面（GUI）和直觀的命令菜單。它還包括一個標準測量模式庫，可用於在沒有額外用戶輸入的情況下使測量快速和容易。此外，該工具能夠在其內部內存中存儲各種數據集，使用戶可以輕松分析和比較多種測量結果。SENTECH SE 400ADV支持多種輸出格式,用於進一步分析或與其他用戶共享數據。SENTECH SE400ADV利用先進的硬件和軟件解決方案為各種應用程序提供準確可靠的結果。其用戶友好的功能和強大的功能使它成為尋找功能齊全的橢圓偏光計並獲得可靠和準確結果的用戶的絕佳選擇。