二手 SOPRA IRSE-200-SE #9124701 待售

SOPRA IRSE-200-SE橢圓儀是一種強大的光學計量工具，用於測量薄膜特性，如厚度和成分。它通過確定光穿過或反射出樣品表面時的偏振特性而起作用。IRSE-200-SE使用橢圓偏振法測量薄膜性能。橢圓偏振法是一種光學技術，對被測樣品的折射率、厚度和表面粗糙度的變化高度敏感。它使用兩個組件：光源和偏振儀。光源照亮樣品，偏振儀測量反射光偏振的變化。SOPRA IRSE-200-SE使用785 nm激光二極管作為光源，使用雙同差橢圓偏振儀作為偏振儀。激光二極管提供光譜帶寬相對較窄的光，為測量提供了改進的信噪比。雙同差橢圓偏振儀利用兩個偏振器測量反射光的偏振。這允許比單一偏振器系統更精確的測量。IRSE-200-SE能夠測量從幾納米到幾百納米的各種薄膜厚度。由於激光二極管是完美準直的，在非平坦的表面上，如金屬和硬質塑料，可以高精度地進行測量。還可以在高於可見光的波長下進行測量，從而可以分析電介質堆棧和有機材料。SOPRA IRSE-200-SE允許實時測量和分析以及實驗後數據分析。它有一個可定制的用戶界面，可以根據廣泛的測量量身定制，使其適合各種樣本類型。系統可以通過USB、以太網或Wi-Fi控制，允許從任何位置進行遠程控制。總體而言,IRSE-200-SE橢圓儀是薄膜測量和分析的理想工具.其精確度和廣泛的應用使得它成為任何實驗室或生產設施的寶貴工具。SOPRA IRSE-200-SE易於使用、可定制的用戶界面和遠程控制功能,旨在幫助研究人員和科學家充分利用其測量結果。