二手 TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 300 with K2IND/Nikon #9126174 待售

TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 300 with K2IND/Nikon
ID: 9126174
Wafer inspection system.
TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300 with K2IND/Nikon是一種橢圓偏光計,用於表面和薄膜的分析。它測量光在界面上的反射和折射,以確定被研究材料的折射角、厚度和光學常數。KMS 300是一種集成的自動化儀器,提供全套分析功能和功能,包括使用K2IND軟件測量原位膠片。KMS 300利用尼康的專有K2IND技術,將顯微鏡的精密光學技術與精密的數據采集設備相結合,為用戶提供高度準確和詳細的分析。KMS 300設計用於研發和生產。KMS 300具有自動對焦鏡頭和自動校準系統,使用戶能夠快速高效地進行實驗。該單元包括一個可以掃描各種樣本量和材料的掃描頭。掃描頭還允許同時收集從紫外線到紅外的多個波段。該機還提供手動樣品平整校正和自動薄膜厚度圖,以提高精度。KMS 300利用樣品照明源與成像工具結合,從樣品表面捕獲反射光。然後使用高速數字信號處理器(DSP)處理捕獲的光,以確定折射角和樣品材料的光學特性。該資產利用高度敏感的探測器來收集各種樣品厚度的數據,並且可以測量厚度不超過50 nm的透射薄膜和反射薄膜。KMS 300能夠在各種環境溫度和濕度設置下進行測量,最高溫度為85°C,相對濕度為95%,非常適合研發應用。該模型還設計為用戶友好,包括彩色圖形用戶界面和自我指導教程,為用戶提供最少的指導,以增強用戶體驗。KMS 300是一種先進的研究級儀器,非常適合需要對薄膜進行高度精確和可靠分析的研究人員和工程師。它堅固、準確,能夠提供可靠的結果,而無需進行廣泛的校準和維護,因此是薄膜分析的理想選擇。
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