二手 TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 300 #9126173 待售

TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300是一種橢圓偏振儀，用於測量薄膜的厚度、折射率、吸收率、消光系數和光學常數。它通過用偏振光照射樣品和測量光的偏振角變化來運作。然後使用這些角度變化來計算薄膜性質。KMS 300結合了雙光頭、旋轉分析儀、旋轉偏振器和高靈敏度檢測器，以達到最大精度。TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300是一種多功能設備，設計用於測量各種樣品類型，包括玻璃、石英、藍寶石、聚合物、單晶等。它測量透明、半透明和反射層的薄膜厚度，以及半透明層厚度大於4nm的光學常數。KMS 300適合於一系列的應用，例如測量抗反射的厚度和光學、顯示和太陽能工業的反射鏡。該儀器設計為用戶友好，具有直觀的用戶界面。軟件控制設備提供數據傳輸、圖形顯示、庫功能、趨勢和分析。它還允許用戶輸入任何測得的以納米為單位的波長，並進行一系列測試以確定樣品性質和計算薄膜參數。TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300提供了許多用於測量薄膜光學特性的功能和功能。該系統配有采樣頭和樣品支架，便於放置樣品。該裝置還配有汞弧光源，產生精確測量所需的近單色光。該機還具有控制測量過程以及存儲和分析數據的軟件。此外，該工具是建立在一個固體鋁基防止振動和保持整個測試區域的靜態溫度。KMS 300是一種高度精確的儀器，旨在測量薄膜的光學常數、厚度、反射率和吸收率。其雙光頭設計、旋轉分析儀、旋轉偏振器提供了最高的測量精度。軟件控制資產和汞弧光源確保準確的測量和數據分析。這種先進、堅固的儀器非常適合光學、顯示和太陽能行業，適合在實驗室環境中不斷使用。