二手 TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 300 #9135186 待售

ID: 9135186
Wafer inspection system computer / controller.
TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300是一款高性能的光學橢圓偏光計,功能廣泛,應用範圍廣泛。橢圓偏光計用於測量薄膜厚度、折射率變化和介電常數等的光學性質。KMS 300是一種小巧且易於使用的橢圓偏光計,可在幾分鐘內提供精確的測量。TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300配備了兩個激光器,一個632.8 nm和一個532 nm波長,提供了10-3到10-6 RIU的可靠測量範圍。該裝置的靈敏度和精確度通過一個整體橫向掃描系統得到進一步提高,該系統允許在一個擴展的角度範圍內同時獲取光譜。另外,KMS 300具有高濃度的激光功率,對具有臨界表面完整性的樣品提供可靠的測量。TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300還具有廣泛的用戶友好功能。設備上高效的顯示提供直觀的菜單布局和導航,從而實現快速設置和數據采集。此外,KMS 300帶有一個直觀的軟件界面,允許用戶以各種適當的格式捕獲和比較光譜或輸出累積的數據。更重要的是,TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 300提供了廣泛的測量選項,使其適合眾多的研究和工業應用。該裝置可用於測量各種基板上的薄膜,具有用於優化精度的內置溫度控制系統,可對10 μ米以下的區域進行測量。此外,該設備與各種自動化的示例處理系統兼容,從而實現了簡化的工作流程。總而言之,KMS 300提供了具有廣泛應用的準確、快速的測量。它易於使用的界面和自動化功能使其成為研究和工業應用的理想選擇。因此,技術儀器公司KMS 300是一個可靠和通用的設備,適合各種應用。
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