二手 TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 310R #9125976 待售

TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 310R Ellipsometer是一種高精度的儀器，設計用來測量非常薄的薄膜和層，薄到納米厚。廣泛應用於材料科學與工程，用於半導體器件、光伏、液晶顯示器（LCD）、有機電子等薄膜技術的研究與過程控制。KMS 310R Ellipsometer是基於一種基本的橢圓偏振原理，該原理將光的偏振分辨反射與薄表面層或薄膜連接起來。對於TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 310R Ellipsometer,選定波長的入射光是p偏振的,反射光是用幾種偏振分析的。偏振入射光的偏振分辨測量可用於確定折射率（RI）和薄層或薄膜的厚度。KMS 310R Ellipsometer包括一個閉環電動系統，它允許一個固定的入射角和一個電動偏振器和檢測器系統，它可以測量一個範圍的入射，反射和偏振。該系統具有高靈敏度、5 nm分辨率和高光通量,可以精確測量非常薄的層。TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 310R Ellipsometer配備了多種光學工具，如激光束模式，使樣品能夠在不同介質如水中精確測量。KMS 310R Ellipsometer包括軟件編輯和統計評估功能,可實現復雜而準確的測量。該軟件具有高性能計算模式,能夠在一次采集運行中快速測量許多樣本。TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 310R Ellipsometer還具有幾種先進的校準特性，以提高數據和結果的準確性。KMS 310R Ellipsometer是一種易於使用的儀器，為用戶提供易於學習和直觀的圖形用戶界面。它具有一系列有用的功能，如自動操作、軟件校準和用戶友好菜單選項。儀器使用先進的數學模型來解釋波板模擬數據，以提供快速準確的結果。TECHNICAL INSTRUMENT公司KMS 310R Ellipsometer是一種可靠而有力的儀器,在測量非常薄的層和薄膜時具有很高的靈敏度和準確性。它是任何需要精確測量超薄層和表面的應用的絕佳選擇,例如在光伏和半導體工業中。