二手 WOOLLAM M-2000 #293771194 待售

製造商
WOOLLAM
模型
M-2000
ID: 293771194
Ellipsometer Spectroscopic ellipsometer With ESM-300 Auto angle base DET-450 Detector Lamp hours: 4125.3 EC-400 Electronic control LINICON LV-125A Vacuum pump (5) AC Power cables (2) L7417 Light bulb precision pliers Pair glove Bag zip tie (3) Hex keys Xcelite R3322 Screwdriver M-2000 Hardware manual (2) EASE Software manuals DELL OptiPlex 7050 PC Table Monitor Keyboard Mouse Calibration wafer: Si02 On Si: 2 nm Si02 On Si: 10 nm Si02 On Si: 25 nm Si02 On Si: 1000 nm.
WOOLLAM M-2000是一種最先進的橢圓偏光計,廣泛用於薄膜分析和表征的研究和工業應用。這種先進的儀器對薄膜的光學特性,如厚度、折射率、消光系數,提供精確準確的測量。WOOLLAM M2000橢圓儀基於橢圓偏振原理,即測量樣品反射的偏振光的變化以提取其薄膜特性的信息。該儀器在紫外線(UV)到近紅外(NIR)波長的光譜範圍內運行,允許在材料科學、半導體和納米技術領域的廣泛應用。M 2000具有高性能的光譜橢圓偏光計,可以配置多個光源,例如鎢鹵素燈、氘燈和激光器,以覆蓋廣泛的光譜範圍。光源的這種靈活性使用戶能夠根據特定的材料特性和樣品要求量身定制測量。M2000橢圓偏振儀的一個關鍵優點是它在測量光學性能方面的高精度和精確度。該儀器配備了先進的算法和數據分析軟件,能夠處理測量的橢圓偏差數據,以高可靠性提取必需的薄膜參數。這種能力使得M-2000非常適合表征復雜的多層結構、薄膜和具有納米級分辨率的塗層。WOOLLAM M 2000橢圓偏光計的設計是為了便於使用和多功能性,使研究人員和工程師能夠在最短的設置時間內進行廣泛的測量。該儀器可配備各種配件,如自動化樣品級、環境室和現場監測工具,以適應不同的樣品類型和實驗條件。WOOLLAM M-2000除了提供高性能的光學測量外,還提供先進的數據可視化和分析工具來有效地解釋和呈現測量結果。儀器的軟件界面提供了對測量參數、數據采集和分析例程的直觀控制,使用戶能夠快速獲得對薄膜光學特性的寶貴見解。WOOLLAM M2000橢圓儀也以堅固的構造和可靠性著稱,使其既適合實驗室研究,又適合工業生產環境。該儀器采用模塊化設計,便於維護和升級,確保了長期性能和與不斷變化的實驗需求的兼容性。總體而言,M 2000橢圓儀是用於薄膜分析的通用且功能強大的工具,可提供高精度測量、高級數據分析功能和用戶友好的操作。無論是在學術研究、材料表征還是工業質量控制方面,M2000都以卓越的精度和效率提供了對薄膜光學特性的寶貴見解。
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