二手 RAYTHEON HB76109 #9148161 待售

RAYTHEON HB76109是一種用於對面膜和晶片進行精確檢查的面膜和晶片檢測設備。利用高分辨率電荷耦合器件（CCD）清晰識別缺陷。該系統提供可視化、對齊、聚焦、對比度、放大和自動缺陷檢測等功能。檢查由500萬像素（MP）CCD相機進行，提供包括4K、8K、16K、32K和64K在內的廣泛分辨率選項。該單元的掃描速度為6 Mpixels/sec，適合高速檢測過程。該機靈敏度高，景深深，具有清晰的圖像質量，噪聲水平低。檢查工具包括手動或自動對齊資產。這允許模型識別要檢查的零件,然後將其與零件的圖像精確對齊。如果需要,可以進行進一步的對齊調整以糾正錯誤或提高精度。對焦和對比度模式提供了簡單、可調的對焦控制以及精確的對比度控制。該設備還包含一個放大系統,允許將圖像尺寸增加到8X。此外,它還具有自動缺陷檢測功能,具有多種功能,包括區域圖檢測、像素計數、長度測量、簽名強度計數和半徑檢查。該單元可與計算機連接,以便於數據傳輸和分析。該機器包括數據分析軟件,允許處理、解釋和可視化數據。還可以通過軟件利用缺陷圖生成和寬電壓範圍等其他功能。HB76109面膜和晶片檢查工具是對面膜和晶片進行嚴格檢查的理想解決方案。它具有高分辨率、廣泛的放大倍率和自動缺陷檢測功能,對於需要卓越圖像質量以進行檢查的制造商來說,它是一個非常寶貴的工具。