二手 HITACHI M 8170 XT #9137307 待售

HITACHI M 8170 XT
ID: 9137307
System.
HITACHI M8170 XT掃描電子顯微鏡(SEM)是一種用於高級研究和成像的高性能電子顯微鏡。它利用雙光束技術,能夠以納米分辨率操縱三維結構。這種最先進的電子顯微鏡具有高性能柱,與各種各樣的高端探測器相結合。M8170 XT有內置的高分辨率場發射電子槍(EGE),可以操作到5kV,以便用於通用應用。顯微鏡還具有用於精確樣品成像的10kV電子槍和用於更高分辨率成像的零傾斜顯微鏡級。鉻塗層EGE可用於碳和氧等光元素的微觀結構觀察和種類分析。利用高性能鏡頭系統和EGE,HITACHI M8170 XT可以達到<1 nm的驚人的高空間分辨率。物鏡系統的高清成像提供了反向散射0.7 nm、二次電子0.25 nm的分辨率。這樣可以確保在不影響圖像分辨率的情況下捕獲樣品的詳細信息。另外,M8170 XT支持使用光熱激發,其中使用超快激光脈沖脈沖以獲得納米級映射能力。也可用於高精度成像樣品中元素元素的分布。HITACHI M8170 XT對於復雜的樣本表征也具有很高的適應性。其掃描平臺提供電子束感應沈積(EBID)、能量色散X射線分析(EDXA)和能量過濾透射電子顯微鏡(EFTEM)的多式聯運掃描。這允許用戶為他們的樣本選擇最佳方法。M8170 XT的高級控制具有自動聚焦、自動SEM圖像采集、自動掃描大小選項等多種功能。這提供了一個高質量的成像每次你想要查看納米結構非常詳細。HITACHI M8170 XT掃描電子顯微鏡是一種用於高級研究和成像的通用工具。它具有高性能透鏡系統,高分辨率場發射電子槍,以及一系列的高端探測器。該電子顯微鏡提供了<1 nm的驚人空間分辨率,並允許使用EBID、EDXA和EFTEM對樣品表面進行多模式掃描。再者,它也可以用於光熱激發,以提供納米尺度的映射能力。最後,它還具有自動聚焦、自動SEM圖像采集和自動掃描尺寸選項,非常方便用戶使用,使其成為高級成像的傑出工具。
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