二手 ADVANTEST T 2000 #9165412 待售

圖為 已使用的 ADVANTEST T 2000 待售
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最終測試
製造商
ADVANTEST
模型
T 2000
ID: 9165412
優質的: 2013
Tester Configuration: Board Module (8) DPS 500mA (22) 800Mbps DM (2) LCDPS (2) BBWGD (4) PMU32 (2) AAWGD (1) RC5V Module information: [MODULE] [SLOT] [BUS] [CHANNEL] LCDPS 5 5 1 - 8 LCDPS 48 28 9 - 16 AnalogSync 26 17 EXIST DPS500mA 6 6 1 - 32 DPS500mA 32 12 33 - 64 DPS500mA 33 13 65 - 96 DPS500mA 20 23 97 - 128 DPS500mA 9 35 129 - 160 DPS500mA 19 49 161 - 192 DPS500mA 46 55 193 - 224 DPS500mA 43 58 225 - 256 SyncGen36 1 1 EXIST JMM 52 24 1 - 8 BBWGD 35 41 1 - 32 BBWGD 17 51 33 - 64 DM800MBPS 2 2 1 - 128 DM800MBPS 3 3 129 - 256 DM800MBPS 4 4 257 - 384 DM800MBPS 28 8 385 - 512 DM800MBPS 29 9 513 - 640 DM800MBPS 30 10 641 - 768 DM800MBPS 31 11 769 - 896 DM800MBPS 25 18 897 - 1024 DM800MBPS 24 19 1025 - 1152 DM800MBPS 23 20 1153 - 1280 DM800MBPS 22 21 1281 - 1408 DM800MBPS 51 25 1409 - 1536 DM800MBPS 50 26 1537 - 1664 DM800MBPS 49 27 1665 - 1792 DM800MBPS 12 38 1793 - 1920 DM800MBPS 13 39 1921 - 2048 DM800MBPS 38 44 2049 - 2176 DM800MBPS 39 45 2177 - 2304 DM800MBPS 15 53 2305 - 2432 DM800MBPS 14 54 2433 - 2560 DM800MBPS 41 60 2561 - 2688 DM800MBPS 40 61 2689 - 2816 AAWGD 36 42 1 - 32 AAWGD 16 52 33 - 64 PMU32 7 33 1 - 32 PMU32 10 36 33 - 64 PMU32 45 56 65 - 96 PMU32 42 59 97 - 128 SyncMtx36 56 - EXIST SyncMtx36 54 - EXIST 2013 vintage.
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ADVANTEST T 2000是一種Final Test設備，用於對集成電路（IC）和System on Chips（SOC）進行最終測試。它是一個模塊化平臺，利用最新的測試技術和測試服務來保證高質量的測試。該單元的設計滿足了大型和小型IC和SOC制造商及測試所的需求。ADVANTEST T2000提供了多種功能,可幫助實現質量最大化,同時保持快速的吞吐量和成本效益。它具有高速機器總線和測試體系結構,可實現多站點測試、高吞吐量和可靠性。該工具具有高速模擬測量模塊、高密度探針卡,可配置用於多個DUT。資產控制著廣泛的測試策略，包括測試參數特性、電源導線和粘合線，以及絕緣測試。它還內置了對各種測試算法和測試結構的支持，從而提高了測試的準確性和全面性。這提供了更高水平的生產質量。該模型還提供了高級缺陷檢測功能。其光學缺陷檢測器能快速識別弱信號開關和DUT的不正確操作。該設備還提供了用於全面測試的在線計量，甚至可以檢測到小規模的缺陷。T 2000針對靈活性進行了優化,實現了對多個產品類別的同時測試。它還能夠自動測試程序生成（ATPG），從而最大限度地減少編程和維護測試程序所需的工作量。該系統還具有測試靈活性體系結構（TFA）。此體系結構基於虛擬化叠加,該叠加允許設備動態適應邏輯、封裝、測試要求和測試方法方面的變化。覆蓋還允許數據鏈路接口測試和綜合。最後,該機器易於與測試實驗室自動化集成,允許進行全局測試和工具監控。這使得快速測量、分析和比較來自不同位置的測試結果以及管理報告和生成的數據變得容易。綜上所述,T2000 Final Test Asset是一個全面靈活的模型,它為IC和SOC制造商提供了廣泛的測試服務和功能。它提供高吞吐量、可靠性和準確性,以及高級缺陷檢查功能。此外,它的測試靈活性體系結構使其能夠輕松適應不斷變化的邏輯和測試要求,並與測試實驗室自動化系統輕松集成。
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