二手 ADVANTEST T 3347 #293610015 待售
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ID: 293610015
Tester
Processor: TP4A
(2) Test heads
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
Configuration of test station
How many test station <1 or 2 & CR> ? 2 ................> 2
Test station 1 is 256HV2
Station1 reverse flow type <Y or N & CR> ? yes .............> yes
What number of pin exist in station 1 ......................> 1-256
pin no. (ex:1-256) ? ..................> 1-256
Test station 2 is 256HV2
Station2 reverse flow type <Y or N & CR> ? yes .............> yes
What number of pin exist in station 2 ......................> 1-256
pin no. (ex:1-256) ? ..................> 1-256
SELECT PPS/MDC/UDC
System : 4PPS (1) or 8PPS (2)
Select PPS (see above) <0-2 & CR> ? 2 ............> 2
Station 1 : 8MDCs (1) or 16MDCs (2) or 24MDCs (3) or 32MDCs (4)
Select MDC (see above) <1-4 & CR> ? 2 ............> 2
Station 1 : 1UDC (1) or 2UDCs (2) or 4UDCs (4)
Select UDC (see above) <0-4 & CR> ? 2 ............> 2
Station 2 : 8MDCs (1) or 16MDCs (2) or 24MDCs (3) or 32MDCs (4)
Select MDC (see above) <1-4 & CR> ? 2 ............> 2
Station 2 : 1UDC (1) or 2UDCs (2) or 4UDCs (4)
Select UDC (see above) <0-4 & CR> ? 2 ............> 2
60V PPS/UDC option exist <Y OR N & CR> ? no ........> no
BIT/AD option exist <Y or N & CR> ? no .........................> no
ADC test option exit <Y or N & CR > ? no .......................> no
Select option CLK
64TE CLK option exist <Y or N & CR> ? no .....................> no
Select STE size
STE capacity 256KW(1) 1MW(2)
Select STE size (see above) <1-2 & CR> ? 2 ...................> 2
SBM option exist <Y or N & CR> ? yes ..........................> yes
How many SBM memory boards <1-2 & CR> ? 1 ...................> 1
ALPG option exist <Y or N & CR> ? no ...........................> no
END SAVE.
ADVANTEST T 3347是用於集成電路芯片生產測試的最終測試設備。該系統提供高達每小時100,000個芯片的吞吐量,並提供高級測試覆蓋範圍、硬件和軟件功能。該單元構建在模塊化平臺上,由PXI/cPCI卡籠、內部電源、冷卻機、底板和CPU組成。這一核心架構擁有多個模塊,包括熱插拔高速可編程邏輯控制器(PLC)、測量儀器、波形發生器以及支持多種第三方應用程序的可自定義庫。此外,該工具還利用高精度模擬測試單元和差分采樣探針來測量雙端口屬性。ADVANTEST T3347具有20位垂直分辨率和6和8位水平分辨率,能夠100MHz掃描鏈接。它是一項緊湊的資產,利用了廣泛的高級測試和可測試(TT)體系結構以及測試開發工具。內存、微處理器和數字電路可以使用T 3347進行測試。此外,參數化測試允許用戶限制測試開發和調試所需的時間,同時保持較高的測試覆蓋率。T3347提供了廣泛的編程和用戶界面功能列表,如自動執行測試、測試結果分析和診斷工具、驗證和管理器、TestPort圖形和數據庫功能,以及一套統計分析和報告功能。可自定義的測試程序和測試庫使用戶能夠細化測試復雜且高度敏感的集成電路的過程,並進一步優化測試周期時間。該型號的硬件和軟件組件可進行硬件升級,從而延長了設備的使用壽命並降低了總體擁有成本。ADVANTEST T 3347提供了符合當今制造準則的測試解決方案,同時達到了安全和質量的最高標準。該系統旨在以方便和自動化的方式處理大量集成電路,從而產生最大的效率和輸出。
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