二手 ADVANTEST T 5335P #9311741 待售

ADVANTEST T 5335P
製造商
ADVANTEST
模型
T 5335P
ID: 9311741
優質的: 1996
Memory tester Temperature range: 150°C Tester processor: TP4 OS Rev: ASX/U-50: 6.04-1 SunOS Release 5.5.1 ASXUBASE: 2.02 DIAG5335SU (Tester diagnosis): 6.03G TH1: 650 OP1 Pin card OP2 Pin card TH2: 650 OP1 Pin card OP2 Pin card DPU: TH1 DC: 1-8 10V PPS: 1-16 HV PPS: 1-4 TH2: DC: 1-8 10V PPS: 1-16 HV PPS: 1-4 FM: 144 M (2) FM Boards Size of FM module: 8 M Memory bank (4) Memory blocks No patten memory BGR-020816X02 FM Board MRA: MRA Option: MRA2 Type of CBU board: BGR-019267 (2) CBU Boards Type of FBM board: 2 M (4) FBM Boards No compression function FCDC: Flash option BGR-020774 SC Board 1996 vintage.
ADVANTEST T 5335P是為半導體器件提供測試能力而設計的最終測試設備。它是一個可配置的高速測試平臺,最多支持10個測試頭,允許客戶優化測試過程,以實現最大的測試吞吐量和質量。ADVANTEST T5335P具有測試頭模塊,該模塊具有多種接觸類型,可滿足各種設備測試要求,包括通孔設備和封裝,以及微顛簸和翻轉芯片測試。它還具有強大的電動螺旋槳,利用高分辨率的探針特殊編程來提供與被測裝置(DUT)的精確接觸。T 5335 P支持廣泛選擇測試應用軟件產品,使客戶能夠快速靈活地開發自己的測試程序和應用程序。這包括通用設備和專門的高頻測試程序,這些程序可對已建立的內存和邏輯設備以及新興技術(如MEMS和NFC)進行表征和生產測試。ADVANTEST T 5335 P的硬件和軟件系統組件協同工作,提供了快速可靠的高性能測試單元平臺。雙板載CPU通過在兩個CPU之間劃分測試序列來加速測試執行。它還支持多達72個通道的並行刺激以及模擬和數字漏鬥,允許同時測試多個測試點以提高吞吐量。使用T 5335P,客戶可以在高達0.1至160 mV的寬動態範圍內達到高達4 sigma或更高的測試精度。這樣可以確保高精度的測試數據,提供超出客戶預期的結果。除了先進的硬件功能外,T5335P還可以配置多達16架測試設備。有了這樣一臺可配置的計算機,客戶可以訪問各種測試模塊和附件,從而能夠滿足廣泛的設備測試要求。ADVANTEST T 5335P還提供全面的網絡和軟件選項選擇,為客戶提供高度的靈活性,使他們能夠定制測試程序和應用程序。它以全面的服務和支持產品為後盾,確保客戶保持生產效率並滿足他們的測試需求
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