二手 ADVANTEST T 5371 #9123475 待售
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ID: 9123475
Tester
Pogo tower M/B
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 480DR+320I/O(HALF)
2. 768DR+512I/O(FULL)
3. 960DR+640I/O(FULL)
4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 2
NUMBER OF FMRA BOARD [0-8] ...........................> 8
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES.
ADVANTEST T 5371最終測試設備是一種生產級測試設備,設計用於以最可靠和最經濟高效的方式測試設備。該系統的設計理念是允許用戶在多種情況下快速準確地評估設備性能,非常適合最大限度地提高生產過程的質量和產量。ADVANTEST T5371采用模塊化設計,易於定制以滿足每個客戶的需求。適應性強的測試通道集允許使用高度靈活的3或4線配置優化測試。可編程設置還允許快速、方便地測試各種設備,同時最大限度地減少對額外測試夾具或定制部件的需求。測試單元還配備了高速測試總線，旨在加快測試過程。這臺機器可以以高達8 μ s/點的速度快速準備操作檢查、測試和測量。此外,該工具還支持多種設備類型,包括模擬IC、MOS、晶體管和數字間設計。T 5371的其他功能包括標準測試、測試程序和程序庫的綜合庫、分布式測試的各種選項以及專為方便操作和驗證而設計的多功能一體用戶界面。還提供錯誤檢測和診斷功能,允許用戶快速識別和修復測試錯誤。T5371是一個可靠而強大的測試資產,為用戶提供了一個快速準確評估設備性能的綜合工具。其高效的模塊化設計、高速測試總線和錯誤檢測功能使其成為在確保設備生產質量的同時最大限度地提高生產率和產量的理想解決方案。
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