二手 ADVANTEST T 5371 #9190447 待售
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單擊可縮放
ID: 9190447
晶圓大小: 12"
優質的: 2010
Memory testers, 12"
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 480DR+320I/O(HALF)
2. 768DR+512I/O(FULL)
3. 960DR+640I/O(FULL)
4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 2
NUMBER OF FMRA BOARD [0-8] ...........................> 8
SIZE OF FMRA BOARD [1:1G, 2:4G] ....................> 1
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:576M] ..........................> 1
END SAVE
Include: Mother board
2010 vintage.
ADVANTEST T 5371是一款市場測試的頂級最終測試設備，適合廣泛的半導體器件。它是一個完全自動化、易於使用、可靠且經濟高效的解決方案,可滿足任何最終測試要求,允許在單個設備上執行多個測試。這是通過利用高速信號響應測試、高精度測量性能和高效的資源利用能力來實現的。ADVANTEST T5371具有模塊化結構和一系列可用的自定義微控制器（CMC）。CMC使系統能夠滿足最多四種並行技術的高速信號響應測試要求。CMC還融合了數字信號處理、信號控制功能和定制加密等多種高端功能。除了具有高度可靠的信號響應測試功能外,T 5371還提供了極高的測量性能準確性和可重復性。T5371采用了一系列步驟，包括高精度浮點處理器、極精確放大器和各種精密模數轉換器。這些組件與高度復雜的信噪比和幹擾抑制算法相結合，可以在所有測試頻率下進行極其精確的測量。ADVANTEST T 5371還包含了一系列全面的資源利用工具，允許在測試操作期間最有效地利用資源。ADVANTEST T5371包括多會話操作、多產品操作和多種測試方法等多種測試模式，從而可以高效利用硬件和軟件資源。此外,該單元還支持一系列自定義選項,使用戶能夠為每個產品設計自己的自動化過程。為保證持續的高質量測試結果，T 5371配備了先進的容錯監測機。此工具的設計目的是在資產未達到性能目標或需要維護時檢測、監視和提醒用戶。T5371是一個市場領先的最終測試模型,它為用戶提供了一個有效、經濟高效的測試需求解決方案。它是一種可靠、易於使用和高度精確的設備,已被證明能夠在各種半導體器件測試中取得卓越的效果。
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