二手 ADVANTEST T 5375 #162944 待售
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ID: 162944
Memory test system
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 16
SIZE OF FMRA BOARD [0:0G,1:1.44G,2:2.88G] ..........> 1
TYPE OF CFM [1:TYPE-1,2:TYPE-2] .............> 1
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:1G,2:2G] .....................> 1
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO.
ADVICEST T 5375是由全球半導體測試解決方案領導者ADVICEST Corporation開發的集成最終測試設備。該系統基於最新的Silicon Test Platform （SIP）技術，為各種微處理器、內存和邏輯器件的廣泛測試要求提供了靈活、經濟高效的能力。ADVANTEST T5375包括一個大型機和許多墨盒,它們提供了支持各種設備的靈活性。大型機由兩個主機計算機系統組成，包括一個基於Windows的GUI單元和一個基於PXI的分布式儀表機。這允許主機級控制所有測試活動,包括配置和數據收集。此外,T 5375還具有多個集成測試接口,支持高速、低電壓和標準測試以及刻錄任務。T5375工具使用了許多不同的測試工具和技術。該資產有一個集成的模型級測試，提供全面的故障覆蓋。測試設備基於SIP體系結構，該體系結構經過優化以支持高引腳計數設備的測試。這包括低壓測試、一些燒傷測試、探針和附件。該系統可以編程為執行高壓測試、時鐘源、pad可編程和專有測試等多種類型的測試。該單元包括許多附加功能,例如用於調試的可編程示波器。此外,ADVANTEST T 5375還集成了數據收集和分析功能,允許用戶實時生成和分析測試數據。這使用戶能夠快速、準確地識別設備故障和邊緣性能的根本原因,有助於減少不必要的維修次數並提高現場產量。ADVANTEST T5375是針對各種微處理器、存儲器和邏輯設備的高級測試解決方案。憑借其先進的功能和集成的機器級測試和調試功能,它是一個功能強大且經濟高效的解決方案,可滿足任何半導體測試需求。
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