二手 ADVANTEST T 5375 #9158916 待售
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ID: 9158916
優質的: 2005
Tester
Number of test head: 1
Configuration of test head
Pin configuration
512DR+ 320I / O (quarter)
1024DR+ 640I /O (half)
2048DR+1280I /O (full): 3
Type of DR PE [1:DR PE, 2:24Ch HVDR PE]: 1
Configuration of test head:
PE Board
Not exist
Exist
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B 1 1 1 1
CHILD C,D 1 1 1 1
CHILD E,F 1 1 1 1
CHILD G,H 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B 1 1 1 1
CHILD C,D 1 1 1 1
CHILD E,F 1 1 1 1
CHILD G,H 1 1 1 1
P-1
Configuration of DPU:
Test head 1 DC configuration [1-64]: 1-64
PPS Configuration [1-256]: 1-256
AC Frequency (Hz) [50,60]: 50
Configuration of FTU
Flash option [Y,N]: No
Configuration of FM:
Number of FMRA board [0-16]: 0
Size of FMRA board [1:8G, 2:16G]: 0
PM (pattern memory) board exist [Y,N]: No
Configuration of MRA:
MRA4 Exist [Y,N]: No
2005 vintage.
ADVANTEST T 5375是為復雜、高針數半導體器件的高速、高精度測試而設計的最終測試設備。該系統旨在通過結合先進技術提高產量和降低成本，使其能夠實現高容量高速測試。該設備的核心是Smart-SASS測試儀,它提供了在各種溫度和電壓範圍內的高分辨率測試功能。它還擁有一個快速擴展的探測解決方案庫，其優越的機械穩定性和準確性被選中。該機器由功能強大、直觀、易於使用的基於Windows的軟件套件控制，為設備測試程序的開發、調試和存儲提供了中心點。它還提供了一個界面，用於控制Smart-SASS測試儀和工具的其他組件的操作。ADVANTEST T5375支持復雜的DFT標記方案和易於重新配置的測試結構,使其非常適合使用高引腳計數設備。此外,該資產還支持高速探測和校準,以便在大批量生產環境中快速識別和校正有缺陷的設備。該模型利用了一些增強其測試能力的附加技術。這包括一個高速時鐘發生器，確保設備空白可以在非常高的速度進行測試，用於大批量制造；一個屏幕參考網格，用於晶圓級參數測試；Wafer探針，通過精確定位測試的器件空白來提高測試精度。此外,該設備還內置了溫度模擬集,可以模擬各種溫度條件,從而更準確地表示現實世界中的性能。總體而言,T 5375是一種功能強大、經濟高效的測試解決方案,可提供高容量、高精度的半導體器件測試。通過將先進技術與一系列測試支持功能相結合,該系統旨在幫助降低成本和提高產量,同時仍能達到最高的準確性和可靠性標準。
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