二手 ADVANTEST T 5375 #9166525 待售
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ID: 9166525
優質的: 2002
Memory tester
Single head
Configuration of test head
Pin configuration
512DR+ 320I/O(QUARTER)
1024DR+ 640I/O(HALF)
1536DR+ 640I/O(FULL)
2048DR+ 640I/O(FULL)
1536DR+1280I/O(FULL)
2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 0
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> No
SIZE OF PM BOARD [1:1G,2:2G,3:4G,4:9G] ...........> 1
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO
2002 vintag
ADVANTEST T 5375是芯片生產過程中使用的最終測試設備,用於確保完成的芯片正常工作並滿足客戶的要求。它用於大型晶圓探針，在那裏可以在短時間內測試大量芯片。該系統具有功能強大且用途廣泛的測試功能,可輕松測試SRAM、DRAM和Flash等大容量內存設備。ADVANTEST T5375包括增強的測試控制體系結構、用於更可靠程序的測試訪問系統以及自動測試模式生成功能。它還可以結合結果分析功能來評估各種問題的測試結果。易於學習的界面允許快速采用,同時還使工程師能夠獲得有價值的測試數據,這些數據可用於完善和優化測試過程。T 5375具有強大的硬件功能,可滿足各種測試需求。該單元包括一個高速No-Wait Time （NWT）夾層卡和一個8通道、64位open-MCTest接口,用於多個芯片的快速並行訪問,以及加快晶圓測試時間的Advanced Hardware Trigger （AHT）機。它還利用高級存儲卡體系結構,包括高級DSP卡、用於控制單元的603PPC場可編程門陣列（FPGA）以及用於所有內存設備的SRAM設備接口。T5375還利用高精度的線性定位技術在測試過程中實現準確的位置控制。這項技術使探頭的精確對準和定位能夠確保可靠的晶圓對準。此外,ADVANTEST T 5375可以輕松編程,以管理過程變化,並為各種產品和過程提供準確的測試結果,且變異性最小。此外,ADVANTEST T5375還集成了全面的測試環境管理功能,包括實時JTAG支持,以便於處理測試設置和編程。測試環境還配備了自動化的測試參數檢查和基於結果的測試參數調整，以確保每個芯片都使用相同的參數進行測試。T 5375可以同時對多個樣本執行測試，提供最大吞吐量和生產率。總體而言,T5375是一個功能強大且可靠的最終測試工具,用於確保正確的測試結果並驗證每個芯片是否符合客戶要求。其多用途的功能集和先進的功能讓晶片製造商能夠最大限度地提高速度、效率和測試精度。它是在當今競爭激烈的市場上提供優質產品的完美解決方案。
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