二手 ADVANTEST T 5375 #9181104 待售
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ID: 9181104
Memory tester
/DIAG/G
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 0
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 0
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 0
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO
END SAVE.
ADVANTEST T 5375是一種高性能的最終測試設備，設計用於生產精密半導體器件。該系統具有多站點自動處理程序、測試儀和熱沖擊室，能夠對封裝和裸模集成電路進行全面測試。ADVANTEST T5375在單個單元中支持數字、混合信號和模擬測試格式的全面測試功能。全矢量數字測試功能由支持JTAG、IEEE 1149.1和IEEE 1149.6協議的矢量步可編程內存單元提供。混合信號功能由模擬/混合信號測試儀提供，帶有專屬的動態參數測試機，允許高速模擬和數字測試。該工具還支持資產內編程和性能驗證。T 5375提供了用戶友好的圖形操作員界面，具有多種自動測試功能。此界面允許與客戶的生產線和外部數據庫系統（如過程控制或診斷系統）無縫集成。它支持靈活的測試調度、完全參數化、多個測試程序、數據日誌記錄、實時報告和趨勢、可定制的數據表示和報告以及廣泛的參數召回。T5375還配備了一個多站點自動處理程序，以快速設置和處理被測設備的多個配置。此處理程序能夠處理3.2mm大小的裸模,每個托盤最多可安裝160個設備。它還支持在處理芯片、框架、板和夾具方面的高精度裝配和安裝操作。ADVANTEST T 5375還具有一個自動熱沖擊室,它允許測試各種溫度範圍內的設備。該室具有先進的多編程能力，允許編程和存儲多達32個測試的測試運行，以便於檢索。此功能允許對用於汽車、醫療、航空航天和其他極端溫度環境的IC進行快速而堅固的性能測試。總體而言,ADVANTEST T5375為集成電路的測試提供了全面、自動化的解決方案,使其成為需要大量測試的公司的一個有吸引力的選項。該測試模型具有豐富的特點，是半導體器件生產的理想選擇。
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