二手 ADVANTEST T 5375 #9262805 待售
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ID: 9262805
Memory tester
With test head
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION
1.512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
TYPE OF DR PE [1:DR PE, 2:24CH HVDR PE] .............> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD
0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 0
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO.
ADVANTEST T 5375最終測試設備是一種可靠高效的測試系統,用於檢查和驗證集成電路、板級設備以及任何需要測試驗證的組件。它具有多種高精度和快速性能選項。測試單元提供了一個用於快速、靈活、準確的設備測試的模塊化平臺。它能夠測試各種技術,如小型輪廓晶體管（SOI）、球柵陣列（BGA）和多級芯片刻度封裝（MLCCS）。它還具有一整套診斷實用程序和自動化測試功能。ADVANTEST T5375采用高速通用接口協議（UIP）構建,使其能夠與各種外部設備（如自動測試設備（ATE）、電路測試（ICT）設備和集成開發平臺進行接口。它還為性能優化提供了可自定義的探針。其靈活的環境支持硬件在環（HIL）和軟件在環（SIL）測試的自動化和定制。這些器件的阻抗模式為集成電路提供了先進的功能和電氣測試。這樣可以靈活地調整探測器的頻率、掃描時間、測試矢量和電壓設置。自動測試模式生成器（ATPG）允許生成可輕松加載到機器中的自定義測試模式,以便進行更多的黑匣子級別故障排除。T 5375包括一個靈活的校準工具設計機械可重復性和準確性。校準資產可用於調整各種測試設置的參數。它有助於確保測試人員為所有正在測試的設備提供精確的結果。T5375采用浮動電源、防護配件、溫度輪廓和其他防護措施等優越的安全措施,以防止過電壓和電湧。ADVANTEST T 5375是模型級模擬和功能測試的理想選擇,適用於汽車、移動設備、消費電子、工業等要求很高的應用領域。它將高速性能與精度和準確性相結合，用於可靠的設備測試。ADVANTEST T5375作為一種高效、經濟高效的測試設備,已被制造商和工程師廣泛用於各種不同的測試應用。
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