二手 ADVANTEST T 5581 #162958 待售
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ID: 162958
Memory test system
Configuration:
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.640DR+288I/O
2.960DR+288I/O
3.640DR+576I/O
4.960DR+576I/O [1-4] ............> 4
TH CABLE LENGTH 1.5M
2.8M [1,2] ......................> 1
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
TEST HEAD TYPE 1.816CH
2.1600CH [1,2] .....................> 2
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-021633 (FULL PE)
2.BGM-021633X02 (I/O PE)
3.BGM-021633X03 (DR PE)
SLOT 33 36 39 161 164 167
CHILD A ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD B ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD C ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD D ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD E ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD F ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD G ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD H ....> 1 1 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC? CONFIGURATION [1-32] .............> 1-20
10V PPS SPEC [1,2] (1:0.4A? 2:0.8A) ......> 2
10V PPS CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
16V PPS CONFIGURATION [33-64] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
1'ST GPIB I/F BOARD 0.NONE.
ADVANTEST T 5581是為測試和測量電子元件和子組件而設計的最終測試設備，包括半導體器件、電子元件和系統。該系統配有復雜的用戶界面,具有直觀的圖形用戶界面（GUI）,使操作員能夠輕松操作設備並訪問各種測試功能和資源。機器包括一個控制臺、一個自動或手動測試頭以及各種測試探針和探針，允許用戶根據自己的要求輕松配置工具。可用的測試頭選項允許資產適應各種組件類型,例如CMOS集成電路（IC）、內存IC和RF應用程序。該模型建立在經過驗證的ADVANTEST T 7500系列體系結構之上,該體系結構提供了靈活、準確和可靠的測試。八通道主機以高速數據傳輸速率和高吞吐量提供實速操作,能夠有效測試各種組件類型。該設備允許用戶創建各種測試場景，最多可以存儲30個測試程序，以便於召回。測試頭包括脈沖發生器、偏置模塊和脈沖調制等內置資源，允許進行一系列測試並準確表征。該系統還具有廣泛的測試工具、工具集和增強功能，可以定制以提供強大的功能，包括全視圖和小數視圖測試、引腳限制和超限測試以及多種測試輸出格式。該單元專為各種組件和應用而設計,可在各種情況下提供可靠和準確的結果。結合豐富的功能集,ADVANTEST T5581為用戶提供了用於電路測試的最終解決方案。
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