二手 ADVANTEST T 5585 #293651629 待售
網址複製成功!
ID: 293651629
優質的: 2001
Memory test system
1/2 Test head
(768) Driver (DR) channels
(576) Input/Output (I/O) channels
(1-64) Direct Current (DC) test units
(1-64) 10V Programmable Power Supply (PPS) units
(129-192) 10V Programmable Power Supply (PPS) units
576M x 8 Address Fail Memory (AFM)
250 MHz test rate
Timing accuracy: ±400ps
2001 vintage.
ADVANTEST T 5585是為大容量嵌入式芯片測試而設計的最終測試設備。該系統基於經過驗證的V93000技術和高性能數字引腳電子設備,為各種應用提供了可靠的嵌入式芯片測試。該機組集混合信號方法、先進控制技術等常規方法於一體,提高了吞吐量和精度。該計算機設計為可擴展、可配置和可升級。它可以單獨使用,也可以配置在最多32個系統的模塊化陣列中。該工具針對高精度測試進行了優化,支持高速鏈接(HSL)測試、內存BIST和邊界掃描(JTAG)測試等復雜應用。高級用戶導航、管理和自動化工具使資產易於設置和使用。該型號帶有最新的測試軟件套件,符合嵌入式芯片的安全性和可靠性標準。它支持各種行業標準的I/O,包括Spartan、Altera、Flexible IO和ASIC。該設備還支持一系列測試能力,為提高生產力提供準確性和速度。它還支持JTAG、Pin Electronics/Pin Control、Vector Capture、Mixed Mode Stimulus、Parametric Test、Cable Test、JTAG test和Memory Tests等測試協議,T 5580支持數據速率高達2.7 G的多重同步傳輸速率。其高精度和響應時間提供了更好的數據吞吐量,使系統更快、更可靠。該設備非常適合測試高密度內存設備,可同時驗證多達8 GB的數據。這臺機器采用健壯的19英寸機架安裝外形規格,與許多主機平臺兼容,具有Windows用戶界面。該工具還采用了可靠的EMI和CE合規性結構,以實現安全操作,並滿足電磁兼容性要求。堅固耐用的設計和較高的相對精度確保了在惡劣環境中的可靠測試性能。總體而言,ADVANTEST T5585最終測試資產設計為可靠的性能、易於設置和使用,可用於低端和高端嵌入式芯片測試。它的可擴展性和可配置性使其成為解決任何芯片測試難題的絕佳解決方案。
還沒有評論