二手 ADVANTEST T 5585 #9351974 待售
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ID: 9351974
Memory tester
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
NORMAL PIN CONFIGURATION
1 1 1 1 1 1 1 1 2 2 2 2
3 3 4 4 4 9 0 0 0 6 6 6 7 7 2 2 3 3
3 7 1 5 9 7 1 5 9 1 5 9 3 7 5 9 3 7
CHILD A-D : Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y
CHILD E-H : Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y
DRIVER OPTION PE
CHILD A-D : NO
CHILD E-H : NO
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
NORMAL PIN CONFIGURATION
1 1 1 1 1 1 1 1 2 2 2 2
3 3 4 4 4 9 0 0 0 6 6 6 7 7 2 2 3 3
3 7 1 5 9 7 1 5 9 1 5 9 3 7 5 9 3 7
CHILD A-D : Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y
CHILD E-H : Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y Y
DRIVER OPTION PE
CHILD A-D : NO
CHILD E-H : NO
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ............> 1-64,97-192,225-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ............> 1-64,97-192,225-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..............................> 2
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST [Y,N] ..............................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0,2,4,8] ........................> 4
NUMBER OF AFM MODULE [0,8] ..........................> 8
SIZE OF AFM BOARD [1-2] [1:4M 2:16M] ...............> 1
PATTERN MEMORY(PM) BOARD EXIST [Y,N] ................> NO
END SAVE.
ADVANTEST T 5585是一款高性能的Final Test Equipment，用於半導體器件如MCU、內存和其他類型的集成電路。它配備了高速、高精度的高通量處理程序，容量高達每小時5000臺設備。ADVANTEST T 5585的優化設計提高了最終測試的生產率,使其對晶圓探測應用更加有效。T 5585將Silicon （SIL）和EUT （EUT）解決方案集成在一個平臺中,為設備和過程定制提供了易於使用的框架。它具有強大的硬件和智能軟件功能,允許用戶配置測試序列並準確分析結果。該系統還配備了一個設備編程模塊，提供了一套設備編程、測試模式生成、閃存和eprom擦除以及設備編程的綜合軟件工具。該單元能夠進行各種質量控制、可靠性測試和功能測試。它支持邊界掃描、定時測量、功率分析等標準數字測試。它還支持交流和直流模擬測試功能。T5585配備了各種不同的測試平臺，每個平臺都有可配置的電路結構，最多可支持256個信號。ADVANTEST T 5585提供模塊測試、設計分析、模具保質期測試、電氣泄漏測試和溫度循環等可靠性測量。它還支持設備激光標記和標簽。ADVANTEST T5585是一種高度自動化的測試機器。它具有Work Table Manager,它為設備加載、卸載和測試執行創建單獨的進程。ZERO-EL運算符屏幕提供對可編輯測試配方、設備圖形數據和各種其他關鍵信息的支持。該工具還與各種錯誤處理程序和其他工具兼容。T 5585的設計是為了滿足任何單站點或多站點晶片探測應用的需求。在穩定可靠的平臺上構建，保證提供準確可靠的結果。它具有許多高級特性和功能,是滿足任何測試或質量控制需求的完美解決方案。
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