二手 ADVANTEST T 5592 #163116 待售
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ID: 163116
Memory tester
CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration)
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration)
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
PIN CONFIGURATION 1. 144DR+192I/O
2. 288DR+384I/O
3. 576DR+768I/O [1,2,3] ...........> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ......................................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE1 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD A/B/C/D ..........> YES
PE2 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD A/B/C/D ..........> YES
PE3 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56) CHILD A/B/C/D .........> YES
PE4 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD A/B/C/D ......> YES
PE5 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE6 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE7 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD A/B/C/D ..> YES
PE8 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD A/B/C/D? .> YES
PE9 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD A/B/C/D? .> YES
PE10 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD A/B/C/D .> YES
PE11 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD A/B/C/D.> YES
PE12 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD A/B/C/D .> YES
PE13 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52) CHILD E/F/G/H .............. YES
PE14 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD E/F/G/H? ..........> YES
PE15 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD E/F/G/H .......> YES
PE16 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD E/F/G/H ......> YES
PE17 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD E/F/G/H......> YES
PE18 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD E/F/G/H ......> YES
PE19 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE20 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE21 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE22 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE23 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246) CHILD E/F/G/H .> YES
PE24 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD E/F/G/H ..> YES
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
10V PPS CONFIGURATION [1-128]......> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ..................................> 50
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..........................................> 4
ONFIGURATION OF PDS
NUMBER OF CYCLE PALETTE [8,16] ...........................> 8
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST[Y,N] ..........................................> YES
SIZE OF DBM BOARD [1-2] [1:256K? 2:1M] ..................> 2
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0,4,8] ...................................> 4
NUMBER OF AFM MODULE [0,8] ..................................> 8
SIZE OF AFM BOARD [1-2] [1:4M] 2:16M] .....................> 1.
ADVANTEST T 5592是半導體芯片的最終測試設備。它專為高引腳計數（HPC）微處理器、存儲器和其他需要大量數據和電氣測試引腳的設備的晶圓和設備級別測試而設計。T 5592系統對於需要快速高效測試過程的設備制造商來說是一個很好的解決方案。ADVANTEST T 5592通過集成體系結構提供了總體測試能力。該單元結合了Maximus軟件和VectorStar硬件,能夠控制設備測試、接口、控制和結果分析。Maximus軟件提供高達32倍的並行測試，允許用戶減少測試時間和成本。T 5592機的主要特點之一是其可擴展的設計，能夠測試多達512針。該工具使用高速I/O和高分辨率ADC功能,實現全面的參數化和功能性測試。它還提供多種測試模式，包括晶圓級測試的測試前模式，以及設備更換、修復和表征，以最大限度地提高測試吞吐量。ADVANTEST T 5592為器件測試提供了盡可能高的傳感分辨率，支持最大精度和質量保證。Data platform Asset-on-Chip測試也提供高速測試能力。它還提供內置的高速測試算法庫，允許高並行和快速測試實現功率、阻抗和其他高速測試。T 5592的主要優點是提供了可重復、一致的高質量測試結果。這意味著設備制造商可以信任其設備測試的結果。該模型還能夠適應設計和制造方面的變化，使其成為高端測試人員的絕佳選擇。憑借其集成的體系結構和可擴展的設計,ADVANTEST T 5592提供了快速高效的測試,幫助設備制造商在競爭激烈的半導體測試市場中保持領先地位。該設備是半導體器件高質量、高精度測試的完美解決方案。
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