二手 ADVANTEST T 6671E #66605 待售
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單擊可縮放
ID: 66605
Tester
Speed: 125 MHz at 512 pins
Includes:
BICMOS2-284CH Single station prober
6TE/pin 32TS Timing generator
16MW STE Vector
Data fail memory: 256W 2 Bits/pin
Scan pattern generator
TC2 Sparc tester controller
Multi DC parametric measuring unit
2.1G Hard disc
GPIB Port, CD Rom
Floppy drive, 3.5"
Color monitor, 21"
AG/AE Probing assembly
Performance board and robot calibration unit
Options:
PDS 0-256 Channel option
512 meg x 2 I/O SCPG option
FM3 Option
Power supplies:
10 V, 5 A, 8 Channels.
ADVANTEST T 6671E是一種自動化的現場最終測試設備,專為板、模塊和產品級別裝配的裝配、配置和測試而設計。高級測試解決方案操作簡單、效率高、成本節省。它非常適合大批量商業產品和小批量產品。該系統由多個單獨的儀器、測試接口和軟件應用程序組成,可通過多個步驟運行測試。T 6671E裝置的速度和精度是關鍵特征.這臺機器可以在單個數字多路復用中處理多達48個數字多路復用板和2,000個通道。它對測試板和產品采用多級測試方法,包括機載診斷、結構測試、功能測試和設備測試。該工具能夠同時運行多個測試,這有助於快速識別問題,從而縮短測試時間。軟件套件提供了一個直觀的用戶界面,可以快速設置和運行測試,跟蹤和記錄測試結果,並根據具體要求定制測試。該資產提供了許多高性能測試和組件,例如數字掃描儀、測試夾具、處理程序、外圍設備和用戶界面。數字掃描儀的設計具有最大的靈活性和性能,允許多達32個單獨的通道進行高吞吐量測試。測試夾具具有許多功能,包括可驗證的印刷電路板(PCB)、靈活的連接器以及與各種儀器輸入/輸出類型的兼容性。此外,處理程序還提供了易於使用的集成模型,用於測試中小型元件和組件。該設備還可用於自動化設備測試,從而節省時間和資源。ADVANTEST T 6671E自動化設備測試功能包括用於檢查元件和電路板的集成顯微鏡、集成測試/重新聚焦控制以及多個測試例程。此外,系統還可以配置多個設備配置,以利用不同的測試功能並一次運行多個測試。T 6671E是對電子元件進行高容量高效測試的理想解決方案。其先進的功能、集成的軟件套件和強大的體系結構確保了設備的可靠性、準確性和速度。此外,還可以快速輕松地將機器配置和集成到任何生產設施中。
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