二手 ADVANTEST T 6671E #9179759 待售

ADVANTEST T 6671E是一種高端、先進的自動化測試設備（ATE），設計用於廣泛的半導體組裝和最終測試應用。T 6671E設計時考慮到靈活性和可靠性,利用先進的技術提供高效、準確且易於使用的測試平臺。ADVITEST T 6671E的多通道架構將每組4K位元（8K in explanded）記憶體的八個獨立群組結合在一起，提供共32 K位元的位點。它還具有具有通道控制和排序的多功能測試前端、多重邏輯比較功能、定時和脈沖參數化、芯片級自測、分析能力。作為一個高級ATE, T 6671E還提供了一個內置的處理器平臺和嵌入式用戶界面（UI）,將高度復雜的軟件算法與一組硬件組件混合在一起。UI具有功能齊全、易於使用的圖形用戶界面（GUI）,用於測試規劃、排序和編程。它還為裝配的測試和調試提供了全面的數據測試和測量功能。對於高級測試應用，ADVANTEST T 6671E通過其JTAG擴展提供擴展測試功能。這允許直接訪問板載內存、寄存器位和外圍設備IO,以及支持外部TDO和TMI訪問。至於最終測試應用，T 6671E配備了廣泛的故障覆蓋能力。其自檢模式（STM）支持內存測試、誤碼率測試和嵌入式掃描測試。錯誤檢測實驗（EDC）支持同時測試混合（MST）和單位（SBT）的4個通道以及多立方分布（MCD）。最後,ADVANTEST T 6671E通過GP-IB、以太網和串行接口支持提供增強的靈活性和連接性,從而能夠與外部系統集成。簡而言之，T 6671E是一個功能強大且可靠的ATE系統，專為一系列應用領域而設計。其強大的、基於處理器的體系結構、JTAG擴展、故障覆蓋功能以及廣泛的連接選項,為工程師和技術人員提供了一個高級、易於使用的平臺,用於最終測試應用程序。