二手 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / VERIGY / ADVANTEST 93000 C200e #156481 待售
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單擊可縮放
ID: 156481
優質的: 2003
Tester
ACCRETECH / TSK UF 190A prober
Standard TSK Hot chuck, 35-150 degrees
Automatic probe-pad alignment
Probe mark inspection
Multi-site 3-64 channels probing
GP-IB interface
Fail-mark inspection
Off-site marking
Automatic probe height setup
Sample sort capability
Soak time
Multi-pass probing
Dual alignment model by prober kind
Binary Data Transmit
Bump height
Rectangular probe card holder
Includes:
Clock board
AC/DC board
(2) DC/DC board
Control board
PoGo segment 512 pin soc
Linux workstation
Switch Box 93000 Controller
System type: SOC
Test head: small
DUT I/F:
SOC P600 16 Pin
C200E 368 Pin
Vector memory:
ch10101-10116 112M P600
ch10201-12416 28M C200E
TIA E9690
WDA E9684
WDB E9686
WGC E9689
WGB E9688
MCA E9714 (AV8 board)
WGA E9685
DPS GPDPS 16 ch
2003 vintage.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/VERIGY/ADVANTEST 93000 C200e最終測試設備是一個自動化的高速測試系統,設計用於測試集成電路(IC)和混合信號組件。它配備了先進的C200e數字協議、自動化模塊和儀表控制、電路內掃描鏈調試和編程功能,以及多個操作員接口選項,用於提高IC開發、生產和驗證階段的生產率。HP 93000 C200e Final Test Unit可用於多種組件,從低成本邏輯芯片和復雜的工業控制到MEM和處理器。VERIGY 93000 C200e Final Test Tool通過其自動化的機器和儀表控制,能夠訪問每個芯片的寄存器和輸入,並向每個芯片寫入測試命令。它還能夠通過使用單個測試程序來支持多個平臺體系結構,如x 86、ARM、MIPS、PowerPC、DSP和FPGA。AGILENT 93000 C200e Final Test Asset還能夠快速檢查每個芯片的數字和模擬行為及參數,提供芯片功能的完整畫面。此外,HEWLETT-PACKARD 93000 C200e Final Test Model提供了多種測試技術,如低功耗測試、多級測試、SCAN設備和仿真。該設備還使用數字成像關聯(DIC)軟件來分析和表征IC,而其高速程序生成器可以構建來自不同性能相關級別的測試程序。此外,用戶驅動的測試排序選項允許用戶根據其特定要求優化測試。除了測試IC之外,ADVANTEST 93000 C200e Final Test System還能夠生成詳細的測試歷史記錄、報告和故障數據,使工程師能夠精確識別有問題的IC和其他缺陷。此數據還可用於快速修改和改進測試過程以提高可靠性。總而言之,93000 C200e Final Test Unit是針對集成電路和其他組件的先進而全面的測試解決方案。其自動化的機器和儀表控制、先進的測試技術以及全面的分析能力將有助於工程師快速識別和優化設計缺陷和錯誤,同時提供可靠而全面的測試結果。
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