二手 BXM M263 #9225033 待售

BXM M263
製造商
BXM
模型
M263
ID: 9225033
Automatic EL tester Detection cycles: High-current detection: < 30s High-low-current simultaneous detection: < 33s Types of defects: High current: Micro-crack Fragment Low-efficiency cell Sintered reticulation Material defect Break gridline Low-current: Cold solder joint Relatively low-efficiency solar cell Shooting mode: Upward 4 cameras Imaging system: SONY Chip camera Resolution ratio: 1920×1200 (230W) Total resolution ratio: 4×1920×1200×3W (2760W) Loading system: Loader and unloader 4K Display Maximum detection scope: 2100 x 1300 mm High-current detection: 8~10A Low-current detection: 0.8~1A Image processing: EL Image display: Local enlargement, bar-code Picture processing: Gain Gray scale Clipping Rotation (2) Inquiries: Barcode Date Function selection: Normal detection Low-current detection Automatic identification Low-current automatic gray-scale.
BXM M263是使用最新技術提高生產測試過程效率和有效性的最終測試設備。該系統是為集成到現有生產線以及獨立安裝而設計的。它能夠快速準確地讀取測試結果,從而加快決策速度並降低生產成本。M263基於先進的觸摸屏界面,易於使用和維護。電容式觸摸屏旨在提供一種直觀的方式來訪問各種功能,如測試庫、報告、診斷和日誌記錄。對於手動測試,該單元包括可定制的方法,例如目視檢查和數據采集,以及自動測試,以減少測試所需的時間並提高測量的準確性。BXM M263包括一系列硬件和軟件功能,旨在提高生產吞吐量和改進質量控制。測試平臺具有在一臺機器中支持多個程序和用戶的能力,允許測試操作員多路復用單個測試過程,提供最大的靈活性。M263還包含高級故障檢測和分類工具。該資產旨在檢測可能在生產過程中出現的故障,並且可以對其進行編程以向生產人員提供自動反饋。這樣可以實現更高質量的組件和降低生產成本。測試模型還提供了減少測試誤差的功能,包括多通道數據采集設備、可擴展故障檢測系統、用戶友好診斷單元和自動數據記錄機。數據記錄是測試過程的關鍵部分。用戶可以選擇要記錄的測試和特性,還可以遠程訪問和分析數據。總之,BXM M263是一種可靠高效的最終測試工具,具有先進的觸摸屏界面、自動化的數據記錄資產以及故障檢測和分類模型。這些特性使其成為各種生產線使用的理想解決方案。
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