二手 FET TEST 3600E #293606077 待售

製造商
FET TEST
模型
3600E
ID: 293606077
Tester.
FET TEST 3600E是一種先進而全面的最終測試設備,旨在滿足當今的半導體制造需求。3600E集成了嵌入式計算機系統,使用戶能夠在工廠現場快速準確地運行各種設備測試。FET TEST 3600E由高功率硬件平臺、X射線安全單元、流程監控和靈活的軟件套件組成。硬件平臺由一個多插槽CPU(每個插槽有兩個內核)、雙千兆以太網卡和最多兩個獨立的通道組成,用於測試設備。這樣可以在各種設計配置中快速高效地測試各種IC和產品設備。在軟件方面,3600E Suite支持幾種不同的行業標準協議、平臺和設備,如以太網和USB。套件由幾個程序組成,如設備表征工具;Process Integrator;串行編號機、時鐘轉換和參數監視器。這使用戶能夠在整個生產過程中監視和表征設備的性能。FET TEST 3600E還包括一個X射線工具,可幫助用戶識別設備設計中可能在制造過程中被忽略或損壞的關鍵點。X射線資產分析設備的內部結構,以確定可能需要額外或改進制造的區域。最後,3600E還包括一個廣泛的過程監視功能,它可以詳細監視設備的生產過程。Process Monitor通過快速檢測生產過程中可能發生的任何錯誤或故障,幫助用戶保護設備的性能。FET TEST 3600E旨在為半導體制造業節省勞動力和增加價值。其多功能性和可靠的性能使其成為設備生產測試的絕佳選擇。X-Ray安全模型、流程監控和軟件套件的靈活性使3600E成為滿足任何設備測試需求的可靠而高效的解決方案。
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