二手 LORLIN Double Impact #184587 待售
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ID: 184587
Discrete component test system
Specifications:
3-pin capability: emitter, base, and collector
Leakage tests
Voltage source - 1.000 V - 600.0 V
Current meas. - 100.0 pA - 200.0 mA
Voltage breakdown tests
Current source - 1.000 uA - 1.000 A
Voltage meas. - 100.0 mV - 600.0 V
ON tests
Base current - 10.00 uA - 20.00 A
Collector current - 10.00 uA - 20.00 A
Voltage meas. - 1.000 mV - 15.00 V
2000 V, 500 A
Includes (2) test stations for small signal and power semiconductors
(3) Test station capability standard, expandable to (5) stations with an optional SEU-220 expansion unit
Available options:
AC option
SCR option
VX option
HCM-201
HVS-201
SS-100
SS-150
SEU-100
System will test, classify, sort, evaluate, grade, and screen the key parameters of devices such as transistors, diodes, fets, rectifiers, zeners, IGBTs, Opto-Coupled, bridges and other related parts
Test library includes tests to perform breakdown voltages, leakage currents, gain tests, saturation, on-state and off-state type tests on the components
PC with a Dell flat screen monitor, keyboard and mouse
Lorlin Windows software.
LORLIN Double Impact（LORLIN DI）是一種最終測試設備，設計用於評估電子設備在兩階段測試過程中的性能。該系統可用於流水線測試、服務中心測試和工程測試實驗室環境。第一階段測試稱為「預測試」，旨在快速識別設備中的薄弱區域，以便在第二階段測試之前確定和解決潛在問題。在預測試期間，LORLIN DI使用自動單元掃描算法來查明任何潛在問題。然後由機器對這些數據進行分析和優先排序,以便進一步調查。第二階段測試稱為「後測試」，使用更詳細的診斷方法確認或駁斥測試前的結果。在測試後階段，LORLIN DI連接到正在測試的設備，並運行內存測試和電源循環等各種操作。該工具還能夠檢測冷焊接頭並評估絕緣電阻、開關參數、二極管測試等重要標準。資產還執行實時3D檢查,確保在正確的上下文中維護零件、材料和組件。如果這些「後」測試檢測到問題,技術可以自動停止制造過程,從而提醒用戶註意問題。LORLIN DI設計采用模塊化、可擴展的設計，使其能夠輕松適應不同應用和使用規模的需求。它被設計為提供多達900個可以鏈接到各種探針測試儀的測試引腳，使制造商能夠並行測試和控制多個設備。作為Double Impact測試模型,LORLIN DI還集成了機械和電氣測試功能,在單個平臺上提供了通用的測試解決方案。該設備還提供先進的故障隔離和修復功能。在測試過程中,用戶可以訪問實時診斷屏幕,以準確檢測和識別故障及其源的位置,然後才能修復故障。圖形用戶界面顯示帶有測試結果和故障位置的報告,這些報告可保存以供將來使用。總體而言,LORLIN Double Impact為電子設備的評估提供了一個全面的最終測試系統。這兩個階段的測試過程、先進的故障隔離和修復能力,以及實時測試結果,使設備能夠快速、準確和經濟高效地進行評估和測試。該單元的模塊化和可擴展性設計使其適合一系列應用,從大批量制造到工程測試實驗室環境。
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