二手 LTX-CREDENCE Quartet #9213487 待售

製造商
LTX-CREDENCE
模型
Quartet
ID: 9213487
優質的: 1990
Tester Prober interface Pogo tower PIB Board Digital and DSP analog per-pin architecture Digital and mixed-signal Fully pin mapped Multisite testing Digital I/O channels: 32 to 512 Formatted data I/O: 200 MHz Clock data I/O: 200 MHz Memory: 8 Meg vector to 64 Meg vector Switch: Period and timing sets Synchronous clock: 128 per Digital pins Low jitter Source / Measure synchronization DSP Analog channels: 4 to 128 Independent scan memory Full spectrum of impedance matched Differential DSP instruments Independent DSP processor per capture instrument Phase coherent: Superclock per DSP instrument Integrated analog and digital UNIX Based workstation Fully integrated network and prober / Handler interfaces (2) Analog segments (4) Independent digital subsystems Test tool Clock speed: 150 MHz Scan: 256 M MP Type: Hinge 256 Channels (2) DPS Vector memory: 16 M PMU 64 Channels: 4 PE Card 8 channels: 32 VI8: 1 DIST B/D: 4 PPM 16 Channels: 16 Cycle length 128 channels: 2 Heat output / Displacement: 20,600 kCal (86,520 J)/100 m³/m Power supply: 187-228 VAC, 3 Phase 1990 vintage.
LTX-CREDENCE Quartet是為提供半導體器件綜合測試而設計的最終測試設備。該系統在一個緊湊的平臺中結合了四個基本工具;參數化測試儀、曲線示蹤器、半導體晶圓檢測儀和自動界面。所有四種工具都集成在一個設備中,從而提高了半導體元件生產測試的效率和便利性。四聯測試機采用參數測試儀測試集成電路的增益和回轉速率等參數。參數化測試儀能夠測試靜態元件和具有動態特性的元件。它也可以用來測試半導體模具以及各種不同的封裝配置。該工具還提供了一種可編程的晶圓曲線示蹤器,用於測試半導體晶圓或薄膜晶體管。該工具能夠測量電流、電壓和電容,可用於分析小型半導體器件的電氣特性。LTX-CREDENCE Quartet的檢驗資產提供了測試半導體器件的全面視圖。此模型能夠快速拍攝組件的照片,生成可用於確定是否存在任何缺陷的高分辨率圖像。設備還包括用於檢測設備物理形狀異常的高級算法。系統產生的圖像自動存儲在安全的雲中,可以在生產過程的後面快速引用。最後,Quartet提供了一個直觀的自動化界面,無需任何手動幹預即可輕松操作。此界面使用戶能夠快速輕松地配置設備以進行各種測試,從而縮短了設置時間並提高了工作效率。由於這些原因,LTX-CREDENCE Quartet是一款吸引人的半導體生產最終測試機器。它結合了四種基本工具的能力,使得集成電路、晶圓和其他組件的測試能夠快速方便,而其直觀的接口使其易於使用。總而言之,這個工具是任何半導體測試任務的絕佳選擇。
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