二手 NEXTEST / TERADYNE Maverick II ST #9279295 待售
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ID: 9279295
Tester
Clock speed: 66 / 133 MHz
IO Pins: 64
Pin electronics: 4
Algorithmic pattern generator
Data buffer memory: 36 M
Vector memory: 4 M
Error catch memory: 36 M
Scan memory: 2 M.
NEXTEST/TERADYNE Maverick II ST是為當今最復雜的系統封裝(SiP)、半導體車載(SOB)和常規組件設計的高性能、先進的第二代測試設備。NEXTEST Maverick II ST可以配置為通過其面向解決方案的平臺提供最佳的測試覆蓋範圍,同時實現靈活的測試策略,從而降低測試成本並加快測試時間。TERADYNE MAVERICK II-ST的集成多模具體系結構可提供高達1080個I/O通道的測試覆蓋範圍,並具有可互換的VXI和PXI模塊,可配置這些模塊以滿足客戶的需求。此外,它還提供一流的吞吐量、信號完整性和多個同時測試通道,提供業界領先的性能。該單元還提供了超高針數多門支持,以確保測試時設備的全面閘蓋。NEXTEST/TERADYNE MAVERICK II-ST還通過其強大的測試執行軟件啟用了靈活的測試策略,該軟件具有許多旨在簡化測試計劃和實施的功能。它的測試入口點解決方案和多個測試流支持使用戶能夠在適當時利用與訂單無關的測試策略,或者根據需要輕松開發測試入口點和測試流特定策略。此外,機器還提供高級診斷功能,包括工具識別、測試數據分析以及模式生成和測試調試工具。Maverick II ST最終測試資產構建在開放平臺上,允許用戶集成多個軟件應用程序、硬件組件和第三方解決方案。強大的模型提供了高度的靈活性,允許用戶自定義他們的體驗以滿足他們的個人需求。總體而言,TERADYNE Maverick II ST是一款功能強大且用途廣泛的最終測試設備,旨在以一流的性能和高效的測試策略提供全面的測試覆蓋。該系統具有模塊化體系結構、開放式平臺功能和高級診斷工具,是測試當今復雜的SiP、SOB和常規裝配的理想解決方案。
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