二手 TERADYNE 239-026-xx #9189896 待售

TERADYNE 239-026-xx最終測試設備專為晶圓級或封裝形式的半導體器件的表征、篩選和最終測試而設計。此模塊化系統為表征和最終測試應用提供了可靠的高性能平臺,並為各種高通量設備需求提供了靈活的測試功能陣列。239-026-xx提供了真正的並行測試、高速儀器控制、高速數據捕獲、測試板儀表和多功能測試功能。主要單元組件包括可編程測試控制和大型機、高速TAP控制器、用於測試頭和控制卡的多個大型機插槽以及各種多站點測試接口卡。該機允許同時運行多個測試卡，這對於並行測試多個設備站點以加快吞吐量和減少測試時間很有用。此外,可以在模塊化配置中部署多個測試板,從而以較低的成本實現靈活的測試條件。該工具支持多種通信協議，包括IEEE 488 （GPIB）和SCPI。這有助於確保與各種頂級儀表控制器（如TERADYNE E5700系列）的兼容性。TERADYNE 239-026-xx通過多種用戶友好的儀器功能得到進一步增強,如自動化測試程序、圖形編程、多種測試語言、極限檢查、直接儀器/內存訪問、串行測試設置、捕獲速率調整和高速數據捕獲。通過高效的測試板儀表，用戶可以經濟地同時測試多個設備，同時使用模擬和數字I/O類型，以及各種模擬和數字參數測試，如DMM、DC、AC和信號測試。239-026-xx資產還提供了幾種增強測試功能的模型選項。例如，設備可以配置多個差分通道接口卡，允許與多個設備進行更多的同時測試。此外,多功能測試選項（MFTO）提供了經濟高效的測試解決方案,可減少各種半導體測試應用中的測試和成本。該系統還可以與可選接口選項結合使用,例如高密度數字串行I/O、數字邏輯測試、模擬測試、交流/直流測試、溫度測試等等。TERADYNE 239-026-xx最終測試單元是用於表征和最終測試應用的可靠的高性能平臺,可提供多種設備測試要求的廣泛功能。憑借先進的儀器功能、靈活的多站點測試功能以及各種接口和機器選項,239-026-xx可以配置為提供經濟高效的解決方案,以最大限度地提高吞吐量並縮短測試時間。