二手 TERADYNE 515-457-A1 #9315339 待售

TERADYNE 515-457-A1是一種高性能的最終測試設備，設計用於高復雜性半導體器件的自動化生產測試。515-457-A1構建在經過TERADYNE驗證的MX平臺上,設計用於固有可靠且可重復的性能,尤其是用於測試集成電路（IC）時。TERADYNE 515-457-A1系統基於Windows 10操作單元,能夠測試各種外形規格的IC,包括模具、芯片比例包（CSP）和四方平板（QFP）。該機具有高速並行數據采集功能,CSP的周期時間小於0.75毫秒,QFP設備的周期時間小於1.0毫秒。這樣做的目的是確保能夠滿足和超過快速的生產要求。515-457-A1能夠並行測試多達24臺設備,從註冊點開始通道到通道偏斜<200 µs。該工具還包含對每個測試參數的完全限制管理,允許在需要時進行多次生產設置。該資產還提供通用的分析和操作控制,用於測試數據審查、故障識別、故障通行證跟蹤和測試配方管理,並具有完整的網絡和遠程訪問功能。TERADYNE 515-457-A1還配備了專利散熱模型，用於控制正在測試的設備的溫度。在易用性方面,515-457-A1支持用戶友好的GUI和各種自動化功能,旨在減少操作員的時間和復雜性。這包括提供各種診斷算法、統計分析和標準波形格式庫，用於測試各種IC和封裝類型。TERADYNE 515-457-A1設備還為靈活的生產設置和測試編程提供了廣泛的支持。該系統支持旨在減少編程時間的圖形測試開發工具，以及旨在提供可追蹤數據和高效故障隔離的各種診斷工具。綜上所述，515-457-A1是一個先進的最終測試單元，旨在輕松滿足高復雜性半導體器件的生產測試要求。它提供全面的功能和高速性能,能夠滿足中高批量生產要求。它還為遠程訪問提供了完整的診斷功能、靈活的編程選項和網絡支持。對於希望提高其IC測試生產過程效率的制造商來說,該機器是一個理想的解決方案。