二手 TERADYNE iFlex #9215606 待售

TERADYNE iFlex
製造商
TERADYNE
模型
iFlex
ID: 9215606
Tester RF Option Test head: Slot / Board name / Part no #2 / MWBoard-4 / 805-890-50 #3 / MWBoardAUX / 805-891-50 #4 / VHFAC / 805-245-50 #5 / DC-30 / 805-002-60 #6 / HSD-200 / 805-251-50 #7 / Support board / 805-003-50 #7.1 / DSP #0 / 810-503-00 #7.2 / DSP #1 / 810-503-00 #8 / HSD-200 / 805-251-50 #11 / VHFAC / 805-245-50 #20 / Support board / 805-003-11 #20.1 / DSP #1 / 810-503-00 #21 / HSD-200 / 805-251-50 Card cage: Slot / Board name / Part no #0 / MW Support board / 805-202-01 #0.1 / EFS6000 / 445 027 00 #0.2 / EFS6000 / 445-027-00 #0.3 / EFS6000 / 445 027 00 #0.4 / EFS6000 / 445-027-00 #1 / MWMSIFConv / 805-627-70 #2 / MWMS-Finalconv / 805-628-70.
TERADYNE iFlex是針對各種半導體封裝和器件制造商的綜合最終測試解決方案。該設備模塊化且可配置,最多可容納6個並行測試板和32個總引腳。它利用其先進的TestCell技術實現高吞吐量和可重復性,並結合其傳統的電路內測試(ICT)功能來支持參數測試、高引腳計數設備測試和靈活的板測試策略。TERADYNE I-FLEX專為快速測試時間和高產產量而設計。系統可以進行自動設備編程、多節點測試、動態晶圓或芯片測試映射。它的短周期可以實現並行測試,而復雜的診斷功能有助於組件故障分析。此外,溫度控制的試件級可以控制測試點溫度,以確保更可靠的結果和可重復性。為了加快和提高測試質量,iFlex的模擬測試功能實現了外圍晶體管的表征。此外,它的快速示波器測量能力可以運行頻率、電壓、電流、功率等一系列參數測試。它還支持3D設備上的堆叠測量,以實現質量控制和可靠性保證。該單元帶有直觀的用戶友好圖形界面,可簡化操作並增強調試過程。它包括測試參數、電路模型和測試指令的數據庫,以及測試腳本庫,以實現更快的測試設置。I-FLEX配備了高級測試工具,包括一個板載可編程電源,用於擴展測試靈活性,一個用於燒錄測試的集成烤箱,以及一個用於交鑰匙探針設置的操作員可選設備庫。這臺機器還配備了一個用於處理精細設備的上下運動控制工具,以及一個用於接收最新技術的現成光纖接口資產。該模型配備了一系列高端軟件工具,用於完整的參數化和功能性測試覆蓋,包括用於定制測試開發的內置基於模型的測試開發工具。它還支持支持高級光學和射頻測試所需的虛擬資源。該設備還包括有助於快速查明設備故障點的強化診斷Suite™,以及用於模具級數據收集和演示的質量保證(QA)軟件套件。
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