二手 TERADYNE iFlex #9258390 待售

TERADYNE iFlex是一個高性能、靈活的解決方案，用於高元件電路的最終測試。它專為有機和合成多芯片模塊、BGA和組件而設計,直至拖動0201。它提供了自動測試模式生成（ATPG）和結構化內置自測（SBIST）等測試方法,以達到當今市場的最高產量和質量標準。TERADYNE I-FLEX利用自己的專有體系結構iFlex Ultra Fast Detect （iF-UFD）來增強測試靈敏度並最大限度地減少測試時間。iF-UFD結合了模式生成、高速MUX控制和低壓差分信令（LVDS）技術，在電噪聲環境中檢測細微的引腳狀態。它還具有用於驅動、捕獲和低視覺反饋測試信號的雙列體系結構,以及用於優化測試信號的預處理練習算法,以及用於支持各種測試的特殊硬件功能測試體系結構。I-FLEX支持多種復雜的測試方法，包括參數化可測量、功能級測試、基於節點的橋接、多電阻網絡、高級數學函數、etric多量規和圖像識別。除了這些強大的測試策略，系統還具有直觀的系統設計和操作。用戶友好的操作和內置的啟動功能使操作員能夠快速查找並開始準備測試。TERADYNE iFlex用途廣泛且經濟實惠,允許對高復雜性部件進行大容量、低成本的測試和重新測試。它還提供各種配件以滿足客戶需求。此外,TERADYNE I-FLEX的測試支持功能使該儀器能夠分析測試數據的趨勢並確定過程缺陷的領域。這些功能有助於確保產品質量和符合行業標準。總之,IFlex是一種高性能、靈活的解決方案,可用於有機和合成多芯片模塊、BGA和組件的高組件電路的最終測試,直至0201拖動。它提供了多種測試方法,並具有直觀的系統設計和操作功能,使其成為高容量、低成本測試和高復雜性部件重新測試的理想解決方案。