二手 TERADYNE J750 E #9256208 待售

TERADYNE J750 E最終測試設備是當今市場上最先進、可靠、用戶友好的測試平臺之一。TERADYNE J750E是一種超高密度生產測試系統,旨在對當今最先進的半導體器件進行高效、經濟高效的測試。由於其集成的prober功能和先進的硬件功能,它提供了臨時測試解決方案和經濟高效的晶圓探測。J 750 E最終測試單元具有業界最高的大批量生產測試設備測試能力之一。它能夠以每個通道30 MHz突發數據速率提供至少3000個測試通道（具有芯片組啟用功能的附加通道）,具有40Gbps的數據流和1 μ s的響應時間。通過使用具有32個數據節點的高度並行化平臺（每個數據節點都有其本地RAM存儲庫）,機器更有效地利用了可用性能,提供了大量並行性、功能可擴展性和高性能測試選項。此外,J750E測試工具包括集成並行軟件工具,用於高效的設備調試和診斷。其中包括Visual DFT,用於高度可視化的面向用戶的調試和實時的晶圓交互探測。還包括WLC設計自動化軟件,用於從圖形環境生成高級測試程序,並使用IQ Fusion平臺自動創建WLC（廣義語言編譯器）。該平臺還集成了量子驗證器（QV），用於極快可靠的測試時間周期，采用嵌入式矢量利用（EVU）技術。QV確保了新產品的快速上市時間,同時提供了完全自動化和免提的測試解決方案。此外，資產還得到資產管理的支持，資產管理可以可靠地跟蹤和監測制造的晶片，並根據需要進行重新測試。這有助於確保不會出現丟失或錯誤的測試。最後,J750 E最終測試模型的開放式體系結構設計和高密度的「可切換」多測試板為不同的封裝類型和端口配置提供了靈活性,因此擴展的成本效益更高。TERADYNE J 750 E最終測試設備是用於測試當今最先進半導體器件的強大而可靠的解決方案。通過其集成的功能（如Visual DFT、WLC Design Automation Software、IQ Fusion、Quantum Verifier和資產管理）,此簡化的測試系統可確保最大效率和成本效益。