二手 TERADYNE J750 #9179290 待售

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TERADYNE J750
已售出
製造商
TERADYNE
模型
J750
ID: 9179290
優質的: 2004
Tester (4) Channel boards: 16M (4) HSD 100 (239-026-03 .16 Meg LVM) 256 Channel with 239-236-00 With 16 M LVM DPS Board MTO CTO Engineering cart Work station: W6200 Manipulator intent Computer: XW 6000 #slot[.subslot] Type idprom -1 sli 239-624-00 0 channel 239-026-03 1 channel 239-026-03 4 channel 239-026-03 5 channel 239-026-03 17 cto 239-029-02 18 cub 239-020-06 22 dps 239-016-03 2004 vintage.
TERADYNE J750是用於生產和燃燒過程的下一代最終測試設備,可確保復雜電子設備的高質量結果。TERADYNE J 750具有四個測試模塊,可以自動執行單個或復雜的功能,以減少錯誤並提高產品質量。J750的集成測試體系結構允許它同時測量和評估各種各樣的測試功能。該系統每個模塊最多可測量4800個電極,設計用於各種設備類型和應用。四個測試模塊集成了高速內存和邏輯測試、單元內測試以及設備引腳、網子、鍵和引腳的綜合測試。四模塊配置允許在生產線中輕松部署,並且可以為專用應用程序定制機器。J 750具有集成電路(IC)處理程序管理功能,可實現測試數據采集、評估和傳輸的自動化。IC處理程序管理模塊提供了控制測試過程的強大工具,包括訪問IC處理程序日誌、IC處理程序隊列管理、調度和IC處理程序管理。IC Handler管理還有助於減少測試時間,並且可以與其他TERADYNE測試模塊集成,以提供完整的測試解決方案。TERADYNE J750通過其可編程邏輯設計(PLD)調試功能提供增強的調試功能。PLD調試功能提供了最多可顯示16個設備的圖形環境。圖形環境允許用戶快速輕松地排除PLD設計故障。它還能夠一致地測量和報告多個設備的設備參數,以便進一步調試。TERADYNE J 750還提供先進的測試覆蓋範圍,有助於減少測試時間和改善質量控制。J750能夠對每個工具進行65萬多次並發測試,為各種電子設備提供詳細的測試範圍。憑借高速探針卡,J 750最大化測試精度和吞吐量。TERADYNE J750是下一代高性能測試解決方案,可提供高效、可靠的測試和改進的產品質量。TERADYNE J 750具有四個測試模塊和集成電路處理程序管理功能,可提供高度的靈活性,確保最大程度的測試覆蓋範圍和準確性,同時降低成本並改善質量控制。
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