二手 TERADYNE J750 #9231470 待售
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ID: 9231470
Tester
Docked with ACCRETECH / TSK UF 200 Series
512 Channels
Clock: 100MHz
EPA: +/-325ps
LVM: 16M
SVM: 1K
DPS (8 Channels/Board): 32 Channels.
TERADYNE J750是一種先進的最終測試設備,用於各種行業和應用。該系統旨在提供復雜集成電路的全面測試,包括高速數字和混合信號設計。TERADYNE J 750具有高性能架構,其中包括多個強大的子系統連接在一起,提供無與倫比的測試覆蓋範圍和性能。該單元利用先進的分析算法,能夠對設備進行準確和高效的測試。這臺機器的設計是為了隨著設備設計的發展動態調整其測試範圍和測試方法。該工具還擁有多種用戶可編程測試儀器,包括集成邊界掃描控制器、模擬測量單元、數字測試界面以及其他專用控制器和測試附件。J750設計用於批量和缺陷分析測試模式,可配置為適合多種設備類型。資產可與一系列網絡環境以及數據采集和分析系統集成,包括基於團隊的開發工具。此功能使用戶能夠開發自動化的測試過程並縮短測試時間。該模型采用多種掃描技術,包括ICT、FCT、邊界掃描、CTL和SDCL。J 750還提供了多種高級編程工具,包括Software Emulators和VASIMO。這些工具用於創建和調試測試、開發自定義設備驅動程序、測試高速總線以及分析設備性能。總體而言,TERADYNE J750是一個功能強大的系統,能夠對復雜的集成電路進行可靠、準確的測試。通過使用各種不同的硬件和軟件工具,用戶可以快速高效地生成針對其特定產品需求量身定制的測試。
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