二手 TERADYNE J750 #9231472 待售
網址複製成功!
ID: 9231472
Tester
512 Channels
Docked with ACCRETECH / TSK UF 200 Series
Clock: 100MHz
EPA: +/-325ps
LVM: 16M
SVM: 1K
DPS (8 Channels/Board): 32 Channels.
TERADYNE J750是一種最終測試設備,用於測試和檢查各種集成電路(IC)設備,從大到很小不等。它能夠以其較大的測試區域測試多個設備,同時仍然保持尺寸緊湊。該系統采用多種集成技術,為客戶提供最佳測試結果。TERADYNE J 750集成了多個測試站點、高級VisionPro編程軟件和高速激光編碼系統的組合。這些組件允許更快的測試時間和更高質量的診斷。集成數字信號處理(DSP)還提供了高級觸發、數據捕獲和分析功能。J750還具有一些旨在提高單位精度和產量的功能。它帶有一個自動測試程序生成機器,簡化了編程過程。這個計算機生成的測試套件包含優化的測試矢量和條件,有助於產生更高的診斷準確性並提高產量。此外,該工具還具有電路內和內置的自檢功能,可以在釋放設備以供使用之前檢測到任何錯誤。J 750還支持多種測試策略,如參數化、功能性和長效。它還可以同時提供晶圓和封裝設備測試策略。其先進的編程軟件使與測試程序設備的接口變得容易,並根據需要定制測試策略。TERADYNE J750還具有獲得專利的Sweep Diagnostics算法,該算法可以快速分析測試結果,幫助縮短測試時間並提高產量。此外,此資產還提供了許多節能功能。其先進的冷卻模式允許更高的空間效率和降低功耗。風扇是智能的,具有多種速度設置,可確保冷卻設備在閑置時不會過度消耗寶貴的電源。總體而言,TERADYNE J 750是一種出色的解決方案,可用於各種IC設備的最終測試和檢查。它提供集成技術、高級編程軟件和節能功能的組合,為用戶提供盡可能高質量的測試結果。憑借其集成的測試站點、數字信號處理和測試程序生成,J750是一個功能強大且可靠的系統,可以幫助任何IC設備制造商節省時間、能源和金錢。
還沒有評論