二手 TERADYNE J750 #9231473 待售

TERADYNE J750 Final Test Equipment是一種經濟高效、高通量、多站點的測試系統,旨在測試集成電路（IC）。它利用數字信號處理（DSP）和閃存技術,在生產環境中對多個IC進行快速、準確的測試。它非常適合測試高密度、大容量的測試應用,如便攜式消費電子、汽車、電信和存儲設備。TERADYNE J 750利用先進的控制技術,在多個設備上同時自動執行兩種類型的測試-結構測試和參數測試。結構測試是一種復雜的方法，用於分析設備的物理結構和檢測潛在的制造缺陷。J750使用實時成像檢測IC中的結構缺陷。參數測試測量設備的電氣特性並驗證其是否符合設備規範。這類測試對於像微處理器、內存和應用特定集成電路（ASIC）這樣的高性能電子元件特別有用。J 750在並行路徑上運行,以200 MHz的頻率同時測試多個設備,從而將測試時間和成本降低了50%。每個測試路徑彼此隔離，使引腳可以獨立並行測試。該單元為高密度應用程序提供了多種體系結構選項,每個探針卡每個站點的探針間距可降至40密耳和500針。它還使用基於視覺的自動對準機提供主板級故障排除和修復。該工具提供微觀成像來定位和隔離組件缺陷。資產的靈活性允許多種測試模式，包括高壓、大電流和混合信號測試。它具有功能強大的軟件套件,包括主動工具和診斷工具。該軟件套件允許用戶快速設置TERADYNE J750來測試設備，同時協助分析測試結果。該軟件還支持多種平臺設計。TERADYNE J 750可靠且易於維護,並且需要最少的用戶設置。其緊湊的設計占用很少的地板空間,使其能夠輕松適應任何生產環境,而其高吞吐量的能力則大大減少了測試時間和成本。