二手 TERADYNE J750 #9240602 待售

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製造商
TERADYNE
模型
J750
ID: 9240602
Tester Test head type: 512 Pin test head Configuration: Channel board (P/N: 239-026-00) Channel board (P/N: 239-026-03) CUB (P/N: 239-020-06) CTO (P/N: 239-029-00) DPS (P/N: 239-016-03) Includes: HEWLETT-PACKARD Z800 PC Workstation BASLER ELECTRIC Isolation transformer (P/N: 9325500100) ESMO Ikarus Standard universal test head manipulator (P/N: 2310.00.97.0001) Missing EMI Dust cover Does not include: Calibration DIB Diagnostic DIB.
TERADYNE J750是一個最終測試設備,它是一個功能強大、高速、多站點、自動化的測試設備系統,用於測試各種電子產品。該單元可以在單個測試幀中處理多達128個測試站點,並且可以支持從芯片到板架原型到大容量、高針數產品的各種設備。它是一種可擴展、靈活且經濟高效的解決方案,可解決各種測試難題和環境。TERADYNE J 750旨在容納各種接口和接口類型的組合,使其能夠量身定制以滿足單獨的測試要求。該機器支持並有效地處理各種測試程序,包括參數化和功能性測試、內存測試、統計分析、設備表征等等。高速數據傳輸和同時測試執行通過其創新的板載處理器技術得以實現。J750還提供了一整套軟件支持工具,方便了從手動測試到自動測試的輕松過渡。設備設置和編程應用程序提供直觀的圖形界面,使測試工程師能夠快速創建、驗證和調試設備配置設置以及測試程序。這一系列特性和功能使您能夠快速、準確地提高設備測試項目的效率。該工具還提供了一系列可擴展的組件,如主板級診斷、溫度室、源測量單元、電源以及可輕松集成到資產體系結構中的RF探測解決方案。此外,它與眾多競爭性和非競爭性測試子系統兼容,確保與現有測試系統的無縫集成。該模型的靈活性允許進行多站點、平面圖優化,並通過不同測試站點的「混合匹配」提高密度使用率。總體而言,J 750 Final Test Equipment是一款功能強大且用途廣泛的測試解決方案,具有開放的體系結構和廣泛的可自定義選項。其創新技術和先進的軟件工具可幫助您實現更高的生產效率和顯著降低的總測試成本。TERADYNE J750提供了可擴展性、可擴展性、兼容性、靈活性和最佳的成本效益,使其成為任何復雜測試環境中質量保證的理想選擇。
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