二手 TERADYNE J750 #9315889 待售

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製造商
TERADYNE
模型
J750
ID: 9315889
Tester (8) HSD100 (2) DPS CTO XW8400 Work station INTEST Manipulator.
TERADYNE J750是一種最終測試設備,旨在為高復雜性設計和設備/連接應用程序提供經濟高效且可擴展的測試解決方案。該系統提供模擬、數字、MEMS、射頻和光學測試技術的優化組合,以及大容量的電路測試,為所有測試應用提供終極覆蓋。TERADYNE J 750最終測試單元由一套廣泛的應用軟件和設計工具支持,使機器能夠與客戶現有的測試環境和現有的測試設備接口。該工具的核心是高速控制器,每秒可提供高達32吉加的樣品(Gsps),同時可處理多達1,024個針腳和16個非針腳I/O通道,從而獲得卓越的性能和較低的開銷。J750還具有針對模擬、數字、MEMS和RF測試通道的復雜的內部自動測試模式生成(ATPG)算法,從而可以實現最大的測試覆蓋範圍。動態但高效的測試模式還允許低功耗測試環境,使J 750成為耗電應用的理想選擇。機載智能內存和以太網連接提供了與競爭解決方案相比的另一個優勢,使客戶能夠將其現有的測試程序與易於管理的軟件庫集成在一起。此外,TERADYNE J750具有內置波形發生器,能夠在模擬和數字領域中生成多達20種不同的波形,從而能夠更快、更全面地進行調試和生產測試。TERADYNE J 750還具有先進的故障蓋分析(FCA)功能,具有自動故障映射和串擾/偏斜檢測功能,可幫助分析復雜的設計故障。故障隔離應力測試(FIST)功能還提高了測試結果的可靠性,減少了錯誤故障、故障查找和探測引起的故障。此外,J750還利用了獲得專利的「環路」測試體系結構,該體系結構能夠快速有效地對多通道設備進行高級測試。最後,J 750 R750是一種全面、經濟高效且可靠的最終測試模型,專為IoT/連接應用程序和復雜的設備設計而設計。功能包括自動化ATPG、智能內存、多種波形發生器、FCA功能、FIST、環路測試和高級測試軟件,允許集成測試開發和與現有測試環境的平穩集成。
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