二手 TERADYNE J750 #9374920 待售

製造商
TERADYNE
模型
J750
ID: 9374920
Testers Test head CUB Test head cart Manuals included Power conditioner.
TERADYNE J750是一種全自動、高速、最終的測試設備,適用於大容量、高密度半導體器件的測試。該系統旨在顯著縮短測試時間,最大限度地減少操作員參與,並確保設備測試和調試的最高質量。TERADYNE J 750是一個計算機控制的全自動單元,設計用於處理單模和晶圓測試,無需人工幹預。它是一個高通量的自動化測試機器,配備了一個多探針裝置測試儀和一個非接觸式示波器,結合起來對集成電路和設備提供快速、準確的測試。該工具包括射頻測量資產和高功率電壓表,以提供額外的測試能力。該型號大大提高了速度,減少了測試時間並提高了吞吐量。J750臺測試儀配備了多探頭測試站、高速非接觸式示波器、數字控制設備和射頻測量系統,使設備能夠同時測試多個模具,同時提供靈活的測試解決方案。該機器具有廣泛的測試覆蓋範圍,使其能夠精確測量復雜的設備特性,直至6GHz。多探針測試站允許對多個模具同時進行快速、準確的測試,使J 750的最大吞吐量達到600 DUT/小時。這種改進的吞吐量大大減少了測試和調試設備的時間,從而減少了測試時間和成本。多探頭臂還提供了一種測試非標準形狀或封裝裝置的替代方法。TERADYNE J750還有一個自動序列控制器,可以對測試系統進行高效編程。此控制器不僅可用於單個芯片,還可用於晶圓級測試。軟件還允許設置特定的測試參數並在測試期間進行監控。該工具配備了復雜的測試診斷程序,使工程師能夠快速識別故障並提供有關故障發生方式的詳細信息。這包括關於探測器和設備位置的位置信息和測量。總體而言,TERADYNE J 750提供了靈活、高速、高通量的解決方案,用於測試多芯片和晶圓級集成電路和設備。通過全自動設計和全面的測試診斷,該資產最大限度地減少了測試和調試的時間和成本,為工程師提供了高效測試大容量半導體器件的強大測試解決方案。
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