二手 TERADYNE J750 #9411726 待售

TERADYNE J750 Final Test Equipment是一種移動式、高容量的最終測試解決方案,用於測試當今各種復雜的片上系統（SoC）設計。TERADYNE J 750具有多達四個測試頭,能夠模擬混合信號測試方案,從而提高了多個段的矽生產率。J750具有高性能內存,能夠同時測試多個設備,從而縮短了混合信號環境中的測試時間。它還提供低功耗以提高效率,以及改進質量保證和過程控制的高級數據管理工具。測試單元采用獨特的硬件輔助測試方法，測試時間極短。這是由J 750機器中的速度、可擴展性、頻率和內存功能的組合實現的。該工具配置了具有可變長度矢量邏輯的高速、靈活的基於ARM的資產,為用戶提供了滿足SoC測試要求中靜態和動態變化所需的可擴展性。該型號還支持針腳和時鐘級測試,確保所有設備信號均經過正確測試。這包括高速和自動向量生成,允許在SoC設備發布之前對其進行精確測試。此外,在測試過程中,設備最多可容納四個數字測試人員,以提高準確性。TERADYNE J750除了具有高頻高速性能外，還通過內置高速數據管理工具支持先進的自動化能力。這允許高級數據記錄、趨勢和報告,使測試人員能夠在測試過程中監視性能。再者，系統還具有支持故障覆蓋分析、功率完整性分析、信號完整性分析等專業測試工具的靈活性。TERADYNE J 750是一個強大的、高容量的測試單元，旨在幫助制造商提高產品產量和減少測試時間，同時最大限度地減少矽技術進步的影響。它已被證明可以降低產量風險,並在整個片上機器產品生命周期中提供可靠的結果。這使得它非常適合當今的高赫茲SoC測試需求。