二手 FEI DualBeam 620 #293795397 待售

FEI DualBeam 620是在半導體制造、材料科學和微電子學領域為高分辨率成像和分析能力而設計的精密離子銑削設備。它結合了掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）系統的功能，提供卓越的成像分辨率和精確的材料去除能力。DualBeam 620單元的核心是一個高性能場發射電子源，產生一個聚焦電子束，用於成像和分析樣品表面。這種電子束提供高分辨率成像能力，使研究人員能夠在納米級可視化和分析材料的微觀結構。這臺機器還配備了高靈敏度檢測工具，能夠以卓越的清晰度和對比度捕捉圖像，從而能夠詳細描述材料特性。除了SEM功能外,FEI DualBeam 620資產還配備了高能聚焦離子束,可以精確定向,通過稱為離子銑削的過程從樣品表面去除材料。離子束典型地是由氙離子組成，可以精細聚焦，以納米級精度去除材料。這種從樣品中選擇性去除材料的能力使研究人員能夠準備樣品進行分析，進行橫截面成像，並以高精度制造納米結構。DualBeam 620模型的主要特點之一是其強大的自動化功能,它簡化了工作流程,並實現了高效的樣本準備和分析。設備配備了先進的軟件，允許用戶定義復雜的銑削模式，自動化樣品導航，優化成像和銑削參數，以達到最大效率。此自動化功能可加快示例處理時間,並提高系統的整體生產率。FEI DualBeam 620單元還具有一系列高級分析功能,可增強其在廣泛應用中的實用性。該機配備能量色散X射線光譜（EDS）探測器，能夠以高靈敏度和空間分辨率分析樣品的元素組成。這使研究人員能夠在原子層面上進行元素映射、識別化學相和表征材料。再者，DualBeam 620工具與各種樣本架和附件兼容，允許使用者分析不同大小、形狀和組成的樣本。該資產既可容納導電樣品，也可容納非導電樣品，並為樣品處理、塗層和制備提供了一系列選擇。這種多功能性使得該模型非常適合材料科學、納米技術和半導體制造領域的廣泛研究應用。綜上所述,FEI DualBeam 620是一種最先進的離子銑削設備,為各領域的研發提供先進的成像、分析和材料去除能力。它結合了SEM和FIB的功能、自動化特性和分析工具，使其成為在納米科學和半導體行業表征材料、制造納米結構以及進行高級研究的強大工具。