二手 FEI DualBeam 835 #293606223 待售
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ID: 293606223
Scanning Electron Microscope (SEM)
Peripherals / Accessories:
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Mouse.
FEI DualBeam 835是一款高性能的離子銑削設備，專為廣泛的材料表征和納米加工應用而設計。該系統結合了掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）技術，實現了精確成像和納米加工。該部隊裝備了高分辨率FEI肖特基野戰發射炮。該槍具有高分辨率成像和近光光斑尺寸的最佳性能。相位對比度成像還包括一個低能反向散射探測器。在納米加工方面，DualBeam 835配備了一臺氙聚焦離子束（FIB）機。該工具的設計允許對材料進行精確和精確的銑削，以便觀察納米尺度特征和擴大材料表征的能力。該資產與各種離子種類兼容，允許用戶根據材料和應用選擇正確的束類型。光束電流可從10 pA調到300 nA。FEI DualBeam 835提供先進的樣品處理，包括高真空級、兩個2軸樣品級和兩個最多容納兩個樣品的空腔，最大限度地提高樣品吞吐量，減少設置時間。SEM和FIB的交換時間以及樣品變化時間可以通過自動空腔交換能力最小化。該模型具有強大的協作、分析和表征軟件。方便用戶的軟件提供直觀的圖形用戶界面和自動化的工作流程,以提高效率和可重復性。FEI Helios Synthesis™軟件使用戶能夠執行自動銑削功能並從FIB通道中提取數據。該軟件還包括用於獲取納米級結構精確3 D圖像的Nanoscopy模塊。DualBeam 835優化了成像和納米加工，使其成為各種材料表征和納米加工應用的理想工具。SEM和FIB技術的結合，精確的樣本操縱，與多種離子的兼容性，先進的軟件，以及肖特基野外發射槍的高性能，使設備成為科學研究和實驗的寶貴工具。
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