二手 FEI DualBeam 835 #293822826 待售

ID: 293822826
Scanning Electron Microscope (SEM).
FEI DualBeam 835是為各種應用而設計的精密離子銑削設備。它可以用於一系列的納米技術和材料研究,從電氣結構分析到生物樣品制備。該系統結合了兩個聚焦的離子束,一個電子束和一個離子束,使得它可以用於在非常小的表面上有針對性地蝕刻和沈積材料。DualBeam 835利用高精度的SCULPT+離子銑削技術來控制聚焦離子束的電壓、電流、束角和光斑大小。這項技術允許用戶在將材料蝕刻和沈積到樣品表面上時獲得最一致和高分辨率的結果。因此,高度復雜的結構可以為各種應用程序精確蝕刻和陣列。FEI DualBeam 835設計易於使用和用戶友好。它提供了一個幹凈和安全的工作環境,一個機器人樣品加載設計,簡化了過程。自動化的樣品切片工藝可以精確地切割和沈積材料,使用戶能夠快速高效地工作,而不必擔心危險化學品。硬件方面,DualBeam 835配備了幾個高級功能。它有一個提供高達400kV加速度電壓的優化電子柱和一個使用斯塔克效應發射器的冷陰極離子源。這樣可以確保實現高質量的離子蝕刻和沈積。此外,該裝置還具有高度適應性的納米氣體噴射機,可讓操作員控制氣流和腔室壓力,確保最佳蝕刻環境和條件。FEI DualBeam 835是研究納米技術和材料科學的寶貴工具。它提供了一種在微觀層面分解物質的高效、準確的方法,允許用戶研究樣品材料的結構、特性和其他特性。此外,其清潔設計確保研究人員不接觸危險化學品,從而提供安全和準確的工作環境。
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