二手 FEI DualBeam 835 #9160371 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

FEI DualBeam 835
已售出
ID: 9160371
晶圓大小: 8"
Dual beam Focused Ion Beam (FIB) system, 8" Automated loadlock Motorized rotary tilt stage: -5° to 55° Magnum ion column for fibbing and searching Ultra high resolution mode for SEM imaging Gas injection: Platinum Delineation etcher XeF2 Etcher Operating voltage: 500 V to 30 kV.
FEI DualBeam 835是一個強大的離子銑削系統,結合了聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)。該系統用於成像、納米加工和材料分析。該FIB源的高能廣束離子束,然後磁聚焦到樣品。然後用離子束研磨樣品,用SEM分析產生的材料。離子在10至70 kV之間加速,允許使用多種銑削策略,包括濺射、矽蝕刻和精細蝕刻。該系統還配備了多種可用於銑削過程的工具,如氙離子源、的液態金屬離子槍和氦離子源。DualBeam 835配備了強大的電動平鋪臺,可對直徑不超過100 mm的樣品進行銑削。這個階段由平板控制,允許精密銑削和容易對準。它還具有雙平面電子成像功能,提供地形和組成特征的成像。集成相機提供高達0.5納米每像素的分辨率。FEI DualBeam 835還具有多種用於控制離子束、處理數據和分析結果的軟件包。它與Windows、Linux和Mac操作系統兼容。DualBeam 835為研究和工業應用提供了成像、納米加工和材料分析的強大組合。其寬廣的離子束、強大的拼貼階段和高分辨率的成像功能使其用戶能夠輕松實現納米級精度。
還沒有評論