二手 FEI DualBeam 835 #9285511 待售

FEI DualBeam 835
ID: 9285511
Scanning Electron Microscope (SEM).
FEI DualBeam 835是一款離子銑削設備,旨在為納米材料研究提供高分辨率成像解決方案。這種雙束成像系統結合了聚焦離子束和掃描電子顯微鏡,提供亞納米分辨率能力。它非常適合廣泛的應用,如3 D表面原子分辨率表面成像、3 D地下成像、表面電壓映射、定量元素分析、離子濺射深度剖析、晶體結構分析和透射電子顯微鏡。DualBeam 835單元由離子柱和掃描電子顯微鏡(SEM或EDX)組成。離子柱由離子源、光束光學元件和聚焦元件組成。采用雙束技術,結合高能離子提取和低能電子束活化,有效處理復雜結構。高能材料噴射有助於定義明確的塊狀結構,提供精確的3D表面地形和原子尺度的高分辨率成像。機器的SEM部分允許對原位材料進行分析。電子束與被測物體之間的相互作用會產生二次電子,為所研究的材料提供洞察力。這些電子由工具檢測,並通過二次電子檢測進行分析。FEI DualBeam 835資產也對先前型號FEI 831進行註釋和圖像處理改進。該模型顯著地提高了視野,從低分辨率提高到亞度計分辨率。它的雙光束方法也對最復雜的結構產生了更好的對比度和圖像清晰度。這種成像設備具有多種特性,如提高精度和分辨率的雙光束輪廓調整工具。再者,DualBeam 835可以通過圖形用戶界面進行控制,這使得系統的控制和操作更加容易。總體而言,FEI DualBeam 835旨在為納米材料研究提供高分辨率成像解決方案。此功能強大的單元采用雙光束技術,提供卓越的成像體驗,提高了分辨率和對比度,並改進了註釋和圖像處理功能。利用用戶友好的圖形用戶界面,離子柱和掃描電子顯微鏡可以輕松操作和控制。
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